[发明专利]一种微小冲量测量装置无效
申请号: | 201010547069.8 | 申请日: | 2010-11-16 |
公开(公告)号: | CN102072790A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 刘畅;汤海滨;施陈波 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人: | 周长琪 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 微小 冲量 测量 装置 | ||
技术领域
本发明属于空间推力器测试领域,具体涉及一种微小冲量测量装置。
背景技术
脉冲等离子体推力器PPT具有比冲高、功耗低、结构简单、能够精确产生微小控制力等优点,被用以微小卫星轨道控制、星座编队飞行等任务。PPT的研究和应用都离不开对其产生的微小冲量的精确测量。
PPT产生的冲量非常小,一般为几十到几百微牛秒,冲量测量过程中干扰因素大,因此需要特别设计一种装置来测量PPT产生的冲量。
发明内容
本发明的目的在于设计一种微小冲量的测量装置,来测量空间微小推力器,如PPT产生的冲量。
本发明所述的微小冲量测量装置一种微小冲量测量装置,包括静架、中心轴、动架、电磁力校准机构、配重、位移传感器;其中,静架上安装有中心轴,中心轴上套接有动架,动架上安装有电磁力校准机构与配重,还安装有位移传感器。
所述静架包括底座、调整圆脚、调整片、支架A、支架B、上连接板、动架支座、电线布置板。底座为水平平台,底座的上表面与下面的分别均匀对称安装有调整片与调整圆角,调整圆角与调整片间通过螺杆螺纹连接;底座上表面两侧边处分别安装有支架A、支架B,底座上表面另一侧边处固定安装有动架支座;支架A与支架B上端通过上连接板固定连接,使支架A与支架B上端的相对固定;上连接板上方安装有电线布置板。
所述中心轴包括底盘、第一枢轴、第一开口环、第一环套、第一枢轴夹具、主轴、第二开口环、第二环套、第二枢轴、第二枢轴夹具与上盘、垫片。
底盘上开有中心孔,第一枢轴下端通过中心孔与底盘间相互定位,底盘与第一枢轴下端间设置有垫片;第一枢轴上由下至上依次套接有第一环套与第一开口环,通过第一开口环和第一环套将第一枢轴与底盘相对固定;主轴下部开有中心孔,第一枢轴上端通过中心孔与主轴相互定位,主轴与第一枢轴上端间设置有垫片。并通过主轴下部固定安装的第一枢轴夹具将第一枢轴夹紧,使第一枢轴与主轴相对固定;主轴上端开有中心孔,第二枢轴下端通过中心孔与主轴相互定位,第二枢轴与主轴之间设置有垫片;第二枢轴上由上至下依次套有第二环套与第二开口环,第二枢轴通过第二开口环和第二环套固定于主轴;上盘下端有中心孔,第二枢轴上端通过中心孔与上盘相互定位;上盘下部固定有第二枢轴夹具,通过第二枢轴夹具将第二枢轴上端夹紧,使第二枢轴与上盘相对固定;中间轴安装在静架中底座上表面中心处与连接板之间。
所述动架为长板,固定套接在中心轴中的主轴上,动架的短边中心点位于主轴的轴线上,动架与静架中动架支座上固定连接;动架的一端安置电磁力校准机构与配重,电磁力校准机构与配重。
将待测微小冲量推力器放置在动架一端,脉冲等离子体推力器工作时,产生的微小冲量会使得动架发生摆动,通过位移传感器获得动架摆动的位移信号,从而得到动架摆动的最大位置。根据电磁校准机构得到的动架的偏转位移与电磁力的关系,以及测量得到的动架摆动的周期,最终得到待测微小冲量推力器产生的冲量。
本发明的优点在于:
(1)动架绕中心轴转动不存在摩擦;
(2)电磁力校准机构为非接触式,并具有均匀稳定的内部磁场;
(3)推力器的安装简单方便,推力器所需电源线布置带来影响消除;
(4)电磁阻尼电路产生的阻尼系数可以根据测量要求进行调节。
附图说明
图1为本发明微小冲量测量装置结构示意图;
图2为本发明微小冲量测量装置中静架结构示意图;
图3为本发明微小冲量测量装置中中心轴结构示意图;
图4为本发明微小冲量测量装置中电磁力校准机构结构示意图;
图5为电磁力校准结构中永磁机构爆炸图。
图中:
1-静架 2-中心轴 3-动架 4-电磁力校准机构
5-配重 6-位移传感器 101-底座 102-调整圆脚
103-调整片 104-支架A 105-支架B 106-上连接板
107-动架支座 108-电线布置板 109-支撑台 110-动架固定杆
201-底盘 202-第一枢轴 203-第一开口环 204-第一环套
205-第一枢轴夹具 206-主轴 207-第二开口环 208-第二环套
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