[发明专利]一种卡盘和半导体处理装置有效
申请号: | 201010547533.3 | 申请日: | 2010-11-16 |
公开(公告)号: | CN102465283A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 聂淼 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | C23C16/458 | 分类号: | C23C16/458 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 卡盘 半导体 处理 装置 | ||
1.一种用在真空处理室中的卡盘,其特征在于,包括:
卡盘主体,所述卡盘主体内设有加热部件
导热装置,所述导热装置与所述卡盘主体相对设置并间隔开预定距离;
可拆卸的膨胀组件,所述膨胀组件设在所述导热装置的上表面上,且与所述卡盘主体的外周相连,所述膨胀组件、所述卡盘主体和所述导热装置限定出密封空间且所述导热装置适于利用密封空间中的导热气体移除所述卡盘主体中所产生的热量,其中所述膨胀组件包括:
固定环,所述固定环具有朝向所述卡盘主体侧延伸的伸出结构,所述伸出结构可弹性变形用于固定所述卡盘主体;
绝热件,所述绝热件设置在所述固定环与所述导热装置之间且与所述固定环可拆卸地连接,用于限制热量在所述卡盘主体和所述导热装置之间的传导。
2.根据权利要求1所述的卡盘,其特征在于,所述卡盘主体与所述绝热件之间设置有用于密封所述密封空间的金属密封件。
3.根据权利要求2所述的卡盘,其特征在于,所述金属密封件为C形环密封件。
4.根据权利要求1所述的卡盘,其特征在于,所述卡盘主体与所述密封空间相邻的一端的外周缘设有凸缘。
5.根据权利要求4所述的卡盘,其特征在于,所述伸出结构形成为环形薄壁结构。
6.根据权利要求5所述的卡盘,其特征在于,所述环形薄壁结构包括:
朝向所述卡盘主体侧的第一环形部;以及
第二环形部,所述第二环形部与所述第一环形部相连且沿着竖直方向的厚度大于所述第一环形部的厚度,所述第二环形部设置在所述卡盘主体的凸缘上以弹性地固定所述卡盘主体。
7.根据权利要求5所述的卡盘,其特征在于,所述环形薄壁结构沿着竖直方向的厚度为1-3mm。
8.根据权利要求1所述的卡盘,其特征在于,所述伸出结构包括:
朝向所述卡盘主体侧的安装法兰;以及
弯曲部分,所述弯曲部分与所述安装法兰相连,所述弯曲部分的悬臂端设置在所述卡盘主体的外周上以弹性地固定所述卡盘主体。
9.根据权利要求1所述的卡盘,其特征在于,所述绝热件和所述导热装置之间设置有第一密封圈。
10.如权利要求1所述的卡盘,其特征在于,所述固定环由不锈钢材料形成。
11.一种半导体处理装置,包括:反应腔室和放置于所述反应腔室内用于承载基片的卡盘,其特征在于,所述卡盘为权利要求1-10中任意一项所述的卡盘。
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C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的