[发明专利]用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂、聚合物薄膜、用于偏光器的保护薄膜、延迟膜、偏光器和液晶显示设备有效
申请号: | 201010549710.1 | 申请日: | 2010-09-30 |
公开(公告)号: | CN102030918A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 保田贵康;名仓正人 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | C08K5/3492 | 分类号: | C08K5/3492;C08L1/08;C08L1/12;G02B5/30;G02F1/1335;G02F1/13363 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 苗征;于辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 聚合物 薄膜 湿度 依赖 改进 偏光 保护 延迟 液晶显示 设备 | ||
1.用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其包含下述式(1)或(2)的化合物:
式(1)
其中Ra代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基;X1、X2、X3和X4每一个独立地代表单键或二价连接基团;R1、R2、R3、R4每一个独立地代表氢原子、烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基,
式(2)
其中Rb和Rc每一个独立地代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基;X5和X6每一个独立地代表单键或二价连接基团;R5和R6每一个独立地代表氢原子、烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基。
2.根据权利要求1所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中在式(1)和(2)中,X1、X2、X3、X4、X5和X6每一个独立地选自单键和下面式(3)所示的二价连接基团的组中的任意一个:
式(3)
其中侧边的*是连接N原子的位置,所述N原子键接到式(1)或(2)的化合物中的1,3,5-三嗪环上。
3.根据权利要求1或2所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其包含式(1)的化合物。
4.根据权利要求1到3任一项所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中式(1)的化合物由以下式(4)表示:
式(4)
其中Ra1代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基;R11、R12、R13和R14每一个独立地代表氢原子、烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基。
5.根据权利要求1到3任一项所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中式(1)的化合物由以下式(5)表示:
式(5)
其中Ra2代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基;R21和R24每一个独立地代表氢原子、烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基。
6.根据权利要求1到3任一项所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中式(1)的化合物由以下式(6)表示:
式(6)
其中Ra3代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基。
7.根据权利要求1到3任一项所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中式(1)的化合物由以下式(6b)表示:
式(6b)
其中Ra4代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基,Rd1和Rd2每一个独立地代表烷基或芳基。
8.根据权利要求6或7所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中Ra3或Ra4是烷基。
9.根据权利要求1或2所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其包含式(2)的化合物。
10.根据权利要求1、2或9所述的用于聚合物薄膜的湿度依赖改进剂,其中式(2)的化合物由以下式(7)表示:
式(7)
其中Rb1和Rc1每一个独立地代表烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基;R15和R16每一个独立地代表氢原子、烷基、烯基、炔基、芳基或杂环基。
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