[发明专利]图像处理侦测触摸位置的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种侦测触摸位置的方法，尤其是指利用图像处理侦测触摸位置的方法。

背景技术

目前，电容式触控面板由于耐磨损、寿命长、而且在光损失和系统功效上更具优势，所以近来电容式触控面板受到了市场的追捧，各种电容式触摸屏产品纷纷面世，电容式触控面板的工作原理一般是通过触控芯片来感应面板的电容变化从而判断手指的位置和动作，但是对电容式触摸屏而言，即使没有手指触碰触摸屏，由于外界环境不可避免的一些干扰，比如温度、湿度、电磁等影响，所述触摸屏侦测到的感应量也会处于一个不断变化的过程中，而若外界干扰的影响过大就不能准确的侦测出手指触碰的具体位置。

鉴于上述原因，现有触控面板在使用时一般都会进行自动校正的步骤，即将通电时检测到的初始环境作为参考值，并找出该初始环境下的最大干扰值并作为门槛值。当手指触碰面板后，若侦测出的感应值大于该门槛值则认为有手指触碰；若侦测出的感应值小于该门槛值则认为没有手指触碰。上述方法虽然可以有效的侦测出手指的具体位置，但是，若触控面板通电时，手指一直在面板上，那么通电时侦测到的门槛值就偏大，此时手指即使触碰面板，也不能侦测出有效的位置。由于上述缺点，我们希望可以利用其他方法来侦测手指的位置，因为手指触碰面板后，各条扫描线上的电容参数会形成一原始的电容参数图形，而利用图形的变化来侦测手指的具体位置可能就更加容易。

发明内容

本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种利用图像处理来侦测触摸位置的方法。

为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种图像处理侦测触摸位置的方法，其包括以下步骤：首先，侦测通电时触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱；其次，侦测下一时刻触摸屏上各条扫描线上电容参数的能量状态图谱；最后，求出上述能量状态图谱之差并与预设阀值作比较；若其差值不在其阀值范围之内，则认为各扫描线上有变化的位置点对应触摸点的位置。

本发明所述的图像处理侦测触摸位置的方法，不但简单，而且不用考虑触摸屏上电时起始状态的环境值，利用能量图谱快速而准确的侦测出手指触碰的位置点。

附图说明

图1是本发明触摸屏在T1时刻各扫描线电容参数能量状态图；

图2是本发明触摸屏在T2时刻各扫描线电容参数能量状态图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

本发明采用图像处理触摸屏的原理首先自识别校正触摸屏，所述触摸屏包括X和Y方向上若干扫描线，若当外界环境没有干扰的情况下，即在所谓的理想状态下，在X和Y方向上侦测出各条扫描线上电容参数均为恒定值。但是由于外界环境的干扰，即使是调整到正常状态下的触摸屏再通电后，由于外界环境的干扰，此时侦测到X和Y方向上的扫描线上的电容参数就会不断变化，导致其电容值就不再相同。

请参考图1所示，其为触摸屏上电一瞬间即在T1时刻各条扫描线上电容参数的能量状态图谱P1，从图中可以看出，X和Y方向上每条扫描线上的电容参数都会不同程度上受到外界环境的干扰，而随着外界环境的不断变化，所述触摸屏上的电容参数会不断变化，如在T2时刻各条扫描线上电容参数变化后形成的能量状态图谱P2，请参考图2所示，依次类推，从而记录第N时刻各条扫描线上电容参数变化后形成的能量状态图谱Pn(未图示)。与图1相比较，从图2可以看出，X轴上的第三根扫描线和第六根扫描线会有所变化，而Y轴上第一根和第五根扫描线会有所变化。所以说在T2时刻所形成的电容参数的能量状态图谱P2相对于T1时刻所形成的电容参数的能量状态图谱P1有变化。

由于触摸屏上电后，各条扫描线上所侦测的电容参数的能量状态图谱可能会略有变化，所以将P1所对应的能量状态图和P2所对应的能量状态图进行比较，算出两个能量状态的差值是否在一个预设阀值P0内，若其差值在所述阀值P0之内，则可以推测在T2时刻电容参数的能量状态图谱未发生变化，即没有产生有效输入；若其差值在所述阀值P0之外，则可以推测在T2时刻电容参数的能量状态图谱发生了变化，且扫描线变化所在的位置就是触碰点所在的位置。更进一步说，若两个图谱的差值和预设的阀值P0做比较，若P2与P1的差值小于阀值P0，那么说明属于外界噪声干扰的范围值，则不需要存储此时侦测到的P2时刻电容参数的能量状态图谱，仍旧保持T1时刻扫描线上电容参数的能量状态图谱；而若两个图谱的差值大于阀值P0，则表明有物体触碰该触摸屏，此时就需要存储P2时刻电容参数的能量状态图谱，将其作为有效输入记录。即X轴上的第三根扫描线和第六根扫描线以及Y轴上第一根和第五根扫描线所对应的交点就是手指触碰的位置点。