[发明专利]用于对静态工件进行三维空间定位的装置及专用手持活动式光学逆反射器

权利要求书

1.用于对静态工件进行三维空间定位的装置，该装置为一多路激光干涉追踪系统，其特征在于：该多路激光干涉追踪系统由至少三台激光干涉追踪仪(1)、与所述各台激光干涉追踪仪(1)分别连接的数据处理系统，以及与所述至少三台激光干涉追踪仪(1)配合使用从而对被测工件(2)进行三维空间定位的手持活动式光学逆反射器(3)组成；其中，所述的手持活动式光学逆反射器(3)包括反射镜(301)以及与所述反射镜(301)联接并用于使该手持活动式光学逆反射器(3)在被测工件(2)的基准面上沿特定方向运动的定位结构。

2.如权利要求1所述的用于对静态工件进行三维空间定位的装置，其特征在于：当被测工件(2)的基准面为由一基准柱面(201)和一基准端面(202)相交所形成的台阶状结构时，所述手持活动式光学逆反射器(3)的定位结构采用以下设计，即：该定位结构包括用于与所述基准柱面(201)相接触的定位本体(304)，以及设置在该定位本体(304)的上端并安装有所述反射镜(301)的定位座(302)，使用时当所述定位本体(304)靠住该基准柱面(201)并沿该基准柱面(201)与所述基准端面(202)的交线运动时，所述定位座(302)的下端面与所述基准端面(202)保持紧贴状态。

3.如权利要求2所述的用于对静态工件进行三维空间定位的装置，其特征在于：所述定位本体(304)包括上端安装有所述定位座(302)的支撑杆(303)，以及设置在该支撑杆(303)下端的旋转体(305)，该定位本体(304)通过所述的旋转体(305)与被测工件(2)的基准柱面(201)接触，并且该旋转体(305)与所述反射镜(301)同轴设置。

4.如权利要求3所述的用于对静态工件进行三维空间定位的装置，其特征在于：所述旋转体(305)呈圆盘状。

5.专用于上述装置的手持活动式光学逆反射器，其特征在于：该手持活动式光学逆反射器包括反射镜(301)以及与所述反射镜(301)联接并用于使该手持活动式光学逆反射器在被测工件(2)的基准面上沿特定方向运动的定位结构。

6.如权利要求5所述的手持活动式光学逆反射器，其特征在于：当被测工件(2)的基准面为由一基准柱面(201)和一基准端面(202)相交所形成的台阶状结构时，所述手持活动式光学逆反射器(3)的定位结构采用以下设计，即：该定位结构包括用于与所述基准柱面(201)相接触的定位本体(304)，以及设置在该定位本体(304)的上端并安装有所述反射镜(301)的定位座(302)，使用时当所述定位本体(304)靠着该基准柱面(201)并沿该基准柱面(201)与所述基准端面(202)的交线运动时，所述定位座(302)的下端面与所述基准端面(202)保持紧贴状态。

7.如权利要求6所述的手持活动式光学逆反射器，其特征在于：所述定位本体(304)包括上端安装有所述定位座(302)的支撑杆(303)，以及设置在该支撑杆(303)下端的旋转体(305)，该定位本体(304)通过所述的旋转体(305)与被测工件(2)的基准柱面(201)接触，并且该旋转体(305)与所述反射镜(301)同轴设置。

8.如权利要求7所述的手持活动式光学逆反射器，其特征在于：所述旋转体(305)呈圆盘状。