[发明专利]一种多触摸点的真坐标侦测装置及其侦测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触摸点侦测装置，特别是涉及一种用于从多触摸点的原始坐标中判断出真坐标的侦测装置及其侦测方法。

背景技术

目前，通过手指之类触控物件的触摸，直接对电子设备进行操作的技术已经普遍应用于日常工作和生活中。这些电子设备一般采用触摸点侦测装置来感应触摸动作并产生相应电信号以供后续操作。所述触摸点侦测装置于实际生产或使用中常表现为触控板、触控屏等形式。

按照触控原理的不同，触摸点侦测装置主要分为电阻式、电容式、光学式、电磁式、声波式等。其中电容式触摸点侦测装置的工作原理为：由使用者以手指或感应笔等可导电的触控物件触摸装置表面，导致装置表面被触摸的位置产生电压变化；微处理器根据此电压变化侦测出触摸点的坐标，以达到触控操作的目的。

为了配合不同的电子设备，业者研发出各种不同的电容式触摸点侦测装置，投射电容式触摸点侦测装置就是其中一种。如图1a、1b所示，传统的一种呈网格状的投射电容式触摸点侦测装置1包括位于第一方向的第一电极2、位于第二方向的第二电极3、绝缘层4、基板5、若干导线6以及处理器7。其中，第一电极2与第二电极3相互交错分布于基板5上，且以绝缘层4隔开。处理器7经由若干导线6连接至两组电极2、3。当可导电的触控物件触摸装置1表面时，每组电极和触控物件之间都会产生自电容变化，此自电容变化可以由处理器7侦测出来。每组电极上自电容变化的质心代表触摸点在每个电极方向上的位置，触摸点的坐标由两组电极方向上的质心相互交叉计算得出。因此，传统的侦测方法步骤为：a)分别扫描两组电极；b)解析触摸点在两组电极方向上自电容变化的质心；c)由所述质心计算出触摸点的坐标。

当触摸点侦测装置表面同时出现至少两个触控点时，以两个触摸点G、H为例，如图2所示，每组电极方向上就会解析出两个自电容变化的质心，即第一方向上质心8a、8b和第二方向上质心9a、9b，由所述两组质心相互交叉配置，计算出四个原始坐标G(8a，9a)、G’(8a，9b)、H’(8b，9a)、H(8b，9b)，其中只有两个坐标为触摸点的真坐标G(8a，9a)、H(8b，9b)，另外两个为触摸点的假坐标G’(8a，9b)、H’(8b，9a)。由此可见，在使用传统的投射电容式触摸点侦测装置及其侦测方法来侦测至少两点个触摸点时，就不可避免的产生触摸点的假坐标，使触控面板的应用受到限制。因此，如何在侦测至少两个触摸点中计算出触摸点的真坐标，剔除假坐标，便成为投射电容式触摸点侦测装置和侦测方法需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种多触摸点的真坐标侦测装置，以在侦测多个触摸点时，能剔除假坐标，准确判断出触摸点的真坐标。

还提供一种多触摸点的真坐标侦测方法。

一种多触摸点的真坐标侦测装置，包括用于侦测所述多触摸点的原始坐标的电极以及连接于所述电极的扫描电路，其特征在于，所述扫描电路包括用于对所述电极全扫描以得到所述多触摸点的原始坐标的全扫描电路，以及用于对所述电极分区扫描以判断所述原始坐标中所述多触摸点的真坐标的分区扫描电路。

本发明另提供的一种多触摸点的真坐标侦测方法，包括以下步骤：a)所述扫描电路用全扫描电路扫描所述电极，得到所述触摸点的原始坐标；b)所述扫描电路用分区扫描电路扫描所述电极，从所述原始坐标中判断出所述触摸点的真坐标。

采用上述多触摸点的真坐标侦测装置和侦测方法，可以克服传统触摸点侦测装置在侦测多个触摸点时，遇到触摸点的假坐标问题，准确判断出触摸点的真坐标。同时，由于每个电极包括两部分电极，因此，可以提高触控面板的扫描速度，也可以减少触控信号在电极上传输时造成的衰减。

附图说明

下面结合具体实施方式及附图，对本发明作进一步详细说明。

图1a为传统投射电容式触摸点侦测装置的结构示意图。

图1b为图1a所示的传统投射电容式触摸点侦测装置沿A-A线的剖面示意图。

图2为传统投射电容式触摸点侦测装置表面发生两点触摸时的示意图。

图3a为本发明提供的多触摸点的真坐标侦测装置的第一实施方式的平面结构示意图。

图3b为图3a所示的多触摸点的真坐标侦测装置的剖面示意图。

图4a为本发明提供的多触摸点的真坐标侦测装置的第二实施方式的平面结构示意图。

图4b为图4a所示的多触摸点的真坐标侦测装置的剖面示意图。

图5为本发明提供的多触摸点的真坐标侦测方法的第一实施方式的流程图。