[发明专利]封装用导线及其制造方法无效
申请号: | 201010554830.0 | 申请日: | 2010-11-19 |
公开(公告)号: | CN102467987A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 杨成诫;汪建民;林振川 | 申请(专利权)人: | 钰成材料科技股份有限公司 |
主分类号: | H01B1/02 | 分类号: | H01B1/02;H01B5/02;C23C14/02;C23C16/02;C25D5/34;C23F4/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 王燕秋 |
地址: | 中国台湾桃园县大*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装 导线 及其 制造 方法 | ||
1.一种封装用导线的制造方法,其特征在于包含有以下步骤:
(a)将一芯线通过一反应室,在所述反应室中产生电浆以清洁所述芯线表面;
(b)在所述芯线表面被覆一镀层。
2.如权利要求1所述封装用导线的制造方法,其特征在于:在步骤(a)中,所述电浆为采用氮气、氩气、氢气或其混合气体所生成。
3.如权利要求1所述封装用导线的制造方法,其特征在于:在步骤(a)中,是将氮气与最多3%氢气的混合气体以10升/分钟通入反应室中,以生成所述电浆。
4.如权利要求1所述封装用导线的制造方法,其特征在于:在步骤(b)中,所述镀层是以电镀、溅镀、蒸镀、化学蒸汽沉积或其复合方式被覆于所述芯线表面。
5.一种封装用导线,其特征在于包含有:
一芯线,由银、银-金合金、银-铜合金、银-钯合金、铜、铝或其合金所制成;
一镀层,被覆于所述芯线表面,所述镀层由金、银、钯、铂、钌、镍或其合金所制成。
6.如权利要求5所述的封装用导线,其特征在于:所述银-金合金中金的含量为10ppm~40wt%。
7.如权利要求5所述的封装用导线,其特征在于:所述银-铜合金中铜的含量为10ppm~10wt%。
8.如权利要求5所述的封装用导线,其特征在于:所述银-钯合金中钯的含量为10ppm~35wt%。
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