[发明专利]一种紫外组合零级波片的加工检测方法

权利要求书

1.一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于紫外组合零级波片光胶在穿孔的光胶板，光胶板的双面平面度≤λ/20，测试时，光从穿孔通过，直接测试紫外组合零级波片，加工和测试循环进行，直到达到精度要求。

2.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于紫外组合零级波片的材料是双折射晶体。

3.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于圆形光胶板有对称的穿孔。

4.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于一部分紫外组合零级波片光胶在圆形光胶板的穿孔上。

5.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法其特征在于紫外组合零级波片的测试为中心和边缘对称测量。

6.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于紫外组合零级波片平行度通过表面与光胶板表面干涉条纹控制。

7.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法其特征在于固定光胶板的工装夹具。

8.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于在光胶板上需要调节消光。

9.根据权利要求1所述的一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于两片波片循环加工不用下盘，且固定方式不会破坏光洁度。