[发明专利]用于检测触碰传感器之触碰的触碰感测方法

说明书

技术领域

本发明涉及触碰感测，特别是有关于利用比对算则之触碰感测方法，本方法尤其适用于感测同时发生的多点触碰。

背景技术

图1显示一般触碰感测装置1之示意图。该触碰感测装置1具有一触控面板10，其包含一感测阵列，具有行列交错的轨条（如12与13）。轨条列13是经由触碰传感器14检测，而轨条行12是经由触碰传感器16检测。触碰传感器14和16将指示检测结果的感测信号发给触碰控制器18以判定发生在触控面板10上的一或多点触碰的位置与强度。此种触碰感测装置1及其操作在此项领域中为泛知者。

举例而言，当两根手指同时触碰该触碰面板10的位置15和17，在X轴与Y轴的感测信号波形曲线是分别如图1之下方与右方所示。如图所示，在Y轴之维度，由于两个位置15和17大致上是在同一行，故波形仅有一个波峰。在X轴之维度，由于两个触碰位置15和17是在不同列，故波形具有两个波峰。

藉由观察感测信号的波形，可得知触碰位置。理想上，当有两个触碰发生在不同的行或列，波形将会出现「波峰-波谷-波峰」的曲线。亦即，在波形曲线中有两个极大值以及一个极小值出现在两者之间。图2显示两个触碰发生时之感测信号的各种波形曲线。图表（a）显示理想状况。如所示，波形具有显现为「波峰-波谷-波峰」的曲线。两个波峰分别表示此维度中两个触碰位置的坐标，而波谷表示两个触碰位置之间的空间。然而，实作上，波形可能并不如此完美。图表（b）显示感测信号受到噪声干扰的状况。如可见者。因为噪声，使得波谷消失不见。在此情况下，难以区分两个触碰位置。图表（c）显示两个触碰位置太过接近以致两个波峰彼此重迭的状况。在此种情况下，亦难以区分两个触碰位置。

现有技术中，是藉由以下的中心点公式计算位置以用于找出触碰位置：

                                                                         （1）

其中Xtouch为触碰位置的坐标，X[i]为第i条线（如：第i行）的坐标，W[i]为第i条线的信号幅度，i起始于一触碰区域的起始点并结束于该触碰区域的结束点。此种方式容易受到噪声干扰，亦即，所计算出的位置可能因为噪声而漂移。

因此，希望有方法能够更有效而精确地判断发生在触控面板等的触碰位置，即使当触碰位置彼此很接近时亦不会受到噪声干扰。

发明内容

有鉴于上述现有技术之问题，本发明之一目的在于提供一种触碰感测方法，其可有效精确检测触控面板等之触碰传感器的触碰位置。

根据本发明之一方面，用于检测触碰传感器之触碰位置的触碰感测方法包含提供代表一理想触碰的一参考触碰波形曲线；从触碰传感器撷取感测信号；藉由移动该参考触碰波形曲线而比对该参考触碰波形曲线与该感测信号以找出最佳结果；以及对应该最佳结果，从该参考触碰波形曲线确认触碰位置。

根据本发明之另一方面，用于检测触碰传感器之触碰位置的触碰感测方法包含提供代表一理想触碰的一参考触碰波形曲线；从触碰传感器撷取感测信号；合成若干个参考触碰波形曲线以组成一理想组合波形曲线；藉由改变组成该理想组合波形曲线的这些参考触碰波形曲线之中心点来比对该理想组合波形曲线与该感测信号以找出最佳结果；以及对应该最佳结果，从该理想组合波形曲线确认触碰位置。

根据本发明之一方面，用于检测触碰传感器之触碰的触碰感测方法包含提供代表一理想触碰的一参考触碰波形曲线；从该触碰传感器撷取一感测信号；从该感测信号中确认一触碰区域，在该触碰区域至少发生一个触碰；确认该触碰区域中发生多少触碰；当判定在该触碰区域仅有一个触碰时，藉由移动该参考触碰波形曲线来比对该参考波形曲线与该感测信号以找出最佳结果，而当判定在该触碰区域有若干个触碰时，合成若干个该参考触碰波形曲线以组成一理想组合波形曲线，并藉由改变组成该理想组合波形曲线之这些参考触碰波形曲线之中心点位置来比对该理想组合波形曲线与该感测信号以找出最佳结果；以及从对应该最佳结果的该参考触碰波形曲线或该理想组合波形曲线辨识一或若干个触碰位置。

比对可藉由计算该参考触碰波形曲线或是由若干个参考触碰波形曲线组成的理想组合波形曲线与该感测信号的相关度实行。或者，比对可藉由计算该参考触碰波形曲线或是由若干个参考触碰波形曲线组成的理想组合波形曲线与该感测信号之间的差异而实行。

附图说明

图1显示一般触碰感测装置之示意图。

图2显示当有两个触碰发生时，感测信号的各种波形曲线。

图3显示两个触碰之理想波形曲线及有两个触碰的感测信号波形。