[发明专利]图形芯片设计中图形像素生成算法的硬件实现有效
申请号: | 201010555850.X | 申请日: | 2010-11-22 |
公开(公告)号: | CN102034221A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 龙斌;陈宝民;焦永;陈宝民;陈怒兴;焦永;赵威特;龚晓;石大勇 | 申请(专利权)人: | 长沙景嘉微电子有限公司 |
主分类号: | G06T1/20 | 分类号: | G06T1/20;G06T1/60 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410205 湖南省长沙市河西*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图形 芯片 设计 像素 生成 算法 硬件 实现 | ||
1.像素测试(筛选),其特征过程为:根据输入像素的横纵坐标(x,y)及透明度(Alpha)分量将超出绘图区或透明度过大以及过小的像素筛选(即剪取测试和Alpha测试)并将满足绘图要求的像素写入FIFO;从上级FIFO中读出像素,根据输入像素横纵坐标(xy)以及深度缓存的起始地址和行宽,读取当前深度缓存中保存的显存中已有3.点距离屏蔽的远近即当前显示像素点的深度值(z);将读取的深度值与当前输入像素的深度值比较,以判定当前像素是否覆盖当前帧存中已有的像素点(深度测试),如果当前像素通过测试,则将像素传输至权利3并将该像素的深度值(z)回写到深度缓存,将深度测试通过的像素点写入下一级FIFO。
2.像素纹理填充,其特征过程为:从上级FIFO中读出像素,根据输入像素的纹理横纵坐标(s,t)以及纹理缓存的起始地址和行宽,计算出该像素纹理颜色的物理地址,读取出相邻的以纹理坐标周边的四个纹理像素,将四个纹理像素值进行二维插值计算得到当前像素的实际纹理值,完成纹理与像素当前输入像素色度信息(A,R,G,B)的融合,将完成纹理计算与融合的像素写入下一级FIFO。
3.像素透明度融合,其特征过程为:从上级FIFO中读出像素,根据输入像素的横纵坐标(x,y)以及显示缓存的起始地址和行宽,读取当前像素显存对应坐标的已有像素信息,完成透明度(Alpha)融合,并回写更新显存中对应位置的像素信息(A,R,G,B)值。
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