[发明专利]非接触光纤型扭转参量检测装置

权利要求书

1.非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：包括基板(20)，所述基板(20)上设置有检测单元，所述检测单元包括信号光纤(33)、曲线型支架和磁性体(10)，布设在所述的曲线型支架内部相对两侧的多个A侧变形齿(4-1)和多个B侧变形齿(4-2)，所述的A侧变形齿(4-1)和B侧变形齿(4-2)呈交错布设，A侧变形齿(4-1)和B侧变形齿(4-2)对应布设在信号光纤(33)的两侧，所述曲线型支架与基板(20)大致垂直，所述磁性体(10)安装在曲线型支架上远离基板(20)的一端，在所述磁性体(10)一侧且与磁性体(10)相间隔的设置有一扭杆(12)，所述扭杆(12)上同轴设置有待测物体(9)，所述扭杆(12)上设置有与磁性体(10)相配合的永久磁铁体，所述磁性体(10)能在永久磁铁体的作用下使信号光纤(33)产生变形，所述信号光纤(33)的两端分别通过延长光纤(1)连接有测试单元(5)，所述测试单元(5)连接有处理单元(7)，所述测试单元(5)通过延长光纤(1)检测信号光纤(33)内部传输光信号功率的变化并传递给处理单元(7)，处理单元(7)对测试单元(5)的数据进行处理并计算后得待测物体(9)的扭转角度、扭转速度或扭转圈数。

2.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述曲线型支架为曲线型壳体(4)，所述基板(20)上设置有与基板(20)相垂直的滑轨(15)，所述磁性体(10)与滑轨(15)是滑动配合。

3.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述曲线型支架由弹簧(38)构成，A侧变形齿(4-1)和B侧变形齿4-2对应布设在弹簧(38)中相邻相邻两圈弹簧丝之间，所述基板(20)上设置有与基板(20)相垂直的滑轨(15)，所述磁性体(10)与滑轨(15)是滑动配合。

4.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述曲线型支架由波纹管(40)组成，所述A侧变形齿(4-1)和B侧变形齿(4-2)对应布设在波纹管(40)的管壁(42)上内凹处的相对两个侧面上。

5.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述曲线型支架由两块与基板(20)相平行锯齿板(19)组成，信号光纤(33)夹持在两锯齿板(19)之间，远离基板(20)的锯齿板(19)通过辅助弹簧(30)与磁性体(10)连接。

6.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述的信号光纤(33)的一端安置有光反射装置(46)，信号光纤(33)的另一端通过延长光纤(1)连接一1X2光分路器(45)的1口，1X2光分路器(45)的2口接测试单元(5)。

7.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述永久磁铁体为圆盘形永久磁铁(18)且圆盘形永久磁铁(18)的极性沿圆盘边沿交替变化，所述磁性体(10)也是一个永久磁铁，且磁性体(10)中一个磁极较另一个磁极更接近圆盘边沿。

8.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述永久磁铁体是齿形边沿圆盘形磁性材料(25)，齿形边沿圆盘形磁性材料(25)是铁、镍或其他能被磁铁吸引的磁性材料构成。

9.根据权利要求1所述的非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：所述永久磁铁体和磁性体(10)的外围均包裹有磁屏蔽材料。

10.非接触光纤型扭转参量检测装置，其特征在于：包括上基板(21)和下基板(22)，所述上基板(21)上设置有检测单元一，所述下基板(22)上设置有检测单元二，所述检测单元一包括曲线型支架一和磁性体一(11)，所述检测单元二包括曲线型支架二和磁性体二(34)，所述曲线型支架一和曲线型支架二内部相对两侧均布设有多个A侧变形齿(4-1)和多个B侧变形齿(4-2)，所述的A侧变形齿(4-1)和B侧变形齿(4-2)呈交错布设，在A侧变形齿(4-1)和B侧变形齿4-2布设有信号光纤(33)，所述磁性体一(11)安装在曲线型支架一上远离上基板(21)的一端，在所述磁性体一(11)的一侧且与磁性体一(11)相间隔的设置有一扭杆(12)，所述扭杆(12)上同轴设置有待测物体(9)，所述扭杆(12)上设置有分别与磁性体一(11)和磁性体二(34)相配合的圆盘形永久磁铁体一(35)和圆盘形永久磁铁体二(36)，所述磁性体一(11)能在圆盘形永久磁铁体一(35)的作用下使曲线型支架一内的信号光纤(33)产生变形，所述磁性体二(34)能在圆盘形永久磁铁体二(36)的作用下使曲线型支架二内的信号光纤(33)产生变形，所述曲线型支架一和曲线型支架二内信号光纤(33)的两端分别通过延长光纤(1)连接有测试单元(5)，所述测试单元(5)与同一个处理单元(7)相连接，所述测试单元(5)通过延长光纤(1)检测信号光纤(33)内部传输光信号功率的变化并传递给处理单元(7)，处理单元(7)对测试单元(5)的数据进行处理并计算后得待测物体(9)的扭转角度、扭转速度、扭转圈数或扭转转矩。