[发明专利]反向式自发光反射镜无效
申请号: | 201010558111.6 | 申请日: | 2010-11-23 |
公开(公告)号: | CN102478205A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 张旻郁 | 申请(专利权)人: | 昆山洺九机电有限公司 |
主分类号: | F21V5/00 | 分类号: | F21V5/00;F21V7/22;F21V29/00;F21Y101/02 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反向 发光 反射 | ||
【技术领域】
本发明是关于一种自发光反射镜,特别是有关于一种利用压克力板与反光片反射光源,使反射镜能够反射影像并且同时提供光源的反向式自发光反射镜。
【背景技术】
随着产品的微型化,各种零件的尺寸也逐渐缩小,在生产过程中的检测程序与检测设备也随之配合调整为微型尺寸。现今数码影像的解析能力已经大幅提升,利用光学镜头拍摄的数字影像配合计算器自动检测设备也逐渐普及,许多过去以人工进行的检测工作也由自动光学检测设备取代。
请参照图1所示,其为现有技术的自动光学检测设备配置示意图。待测对象1通常为微型芯片、微型被动电子组件、小螺丝等微小对象,利用一摄影机2对焦于待测对象1以取得其数码影像,输入计算器通过计算以判断产品是否符合规范。为了在同一张图像同时检测一对象的多个角度,利用数个光源3与数个反光镜31的设置,将待测对象1的多个角度影像反射至摄影机2,可获得在一个在显视器中央具有正面影像,而正面影像的两侧同时显示有侧面或背面影像的效果,如此可以同时进行待测对象1多个角度的影像检测。
现有技术虽然能够同时取得待测对象1的多个角度影像,但是由于光源3与反光镜31并不是在同一个角度,因此在待测对象1上会形成阴影,造成影像比对的误判;又由于光源3直接射入摄影机2的镜头,容易形成光晕影响成像质量。
因此有必要提供一种具有自发光的反射镜,让光源与反射镜的镜像来源为同一个位置,使待测对象的影像不会产生阴影,同时避免外部光源直接照射摄影机镜头,提高成像质量。
【发明内容】
本发明的主要目的在于提供一种反向式自发光反射镜,能提供均匀的照明光源,同时可以反射镜像,如此能够让光源与反射镜的镜像来源为同一个位置,使待测对象的影像不会产生阴影,同时避免外部光源直接照射摄影机镜头,提高成像质量。本发明的其它目的和优点可以从本发明所揭露的技术特征中得到进一步的了解。
为达上述目的,本发明采用如下技术方案:一种反向式自发光反射镜,包括有一压克力板、数个电路板及一反光片;所述压克力板为一能散射光线的板片,其中一面形成数个置放槽,所述置放槽的底部具有一底座;所述电路板置入所述的底座,所述电路板表面设有数个发光组件;所述反光片覆盖于置放槽开口,以反射发光组件的光线,压克力板另一面的表面具有一层半反光涂层。
相较于现有技术,本发明反向式自发光反射镜通过反光片与压克力板提供均匀的照明光源,通过半反光涂层同时可以透光并且反射镜像,如此能够让光源与反射镜的镜像来源为同一个位置,使待测对象的影像不会产生阴影,同时避免外部光源直接照射摄影机镜头,提高成像质量。
【附图说明】
图1为现有技术的自动光学检测设备配置示意图。
图2为本发明反向式自发光反射镜的立体分解图。
图3为本发明反向式自发光反射镜的组合侧视图。
图4为本发明反向式自发光反射镜的组合局部剖视图。
图5为本发明反向式自发光反射镜的检测示意图。
【具体实施方式】
以下实施例的说明是参考附加的图式,用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「顶」、「底」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用以说明及理解本发明,而非用以限制本发明。
请参照图2至图4所示的本发明反向式自发光反射镜,其中图2为本发明反向式自发光反射镜的立体分解图;图3为本发明反向式自发光反射镜的组合侧视图;图4为本发明反向式自发光反射镜的组合局部剖视图;图5为本发明反向式自发光反射镜的检测示意图。
请参照图2所示,本发明反向式自发光反射镜4包括有一压克力板5、数个电路板6、一反光片53。
压克力板5为一能散射光线的板片,较佳为白色压克力板,其中一面形成数个纵长方向的置放槽51,置放槽51的底部为一平面的底座52,压克力板另一面的表面具有一层半反光涂层7,半反光涂层7可以用涂布、沉积等方式形成一金属薄膜,亦可以外加一层半透光玻璃纸方式形成;半反光涂层7类似一般镜子的卤化银涂层,但其厚度非常薄,使光线可以部分反射而部分可以穿过;置放槽51的开口具有结合面54。
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