[发明专利]用于对发光二极管的功率参数再编程的系统

权利要求书

1.一种系统，包括：

多个发光二极管LED模块；

可再编程的总线，可操作用以向所述LED模块提供功率；以及

微控制器单元，可操作用以修改所述可再编程的总线的电压。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述微控制器单元在所述多个LED模块中的至少一个LED模块被检测为失效或者不适当操作时修改所述可再编程的总线的电压。

3.根据权利要求1所述的系统，其中：

所述多个LED模块中的至少一些LED模块有选择地相互电耦合，并且

所述可再编程的总线有选择地电耦合到所述多个LED模块中的至少一些LED模块。

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述多个LED模块中的至少一些LED模块包括对应的旁路开关，所述旁路开关可操作用以有选择地将LED模块电耦合到所述可再编程的总线或者与所述可再编程的总线去耦合。

5.根据权利要求4所述的系统，其中所述微控制器单元还可操作用以接合所述旁路开关。

6.根据权利要求4所述的系统，其中所述微控制器单元根据已经接合的旁路开关的数目来修改所述可再编程的总线的电压。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述微控制器单元还可操作用以修改向所述多个LED模块供应的电流。

8.根据权利要求7所述的系统，其中所述微控制器单元根据所述LED模块的温度来修改所述电流。

9.一种方法，包括：

检测电路中的多个发光二极管LED模块的操作；以及

响应于检测到的所述LED模块的操作来修改向所述多个LED模块提供的电压或者电流中的至少一项。

10.根据权利要求9所述的方法，其中检测所述多个LED模块的操作包括检测所述LED模块的温度、各所述LED模块的失效或者各所述LED模块的不适当操作中的至少一项，所述电路包括至少一个开关，所述方法还包括：

在检测到所述LED模块的温度在预定义阈值以上、检测到LED模块的失效、或者检测到LED模块的不适当操作时，接合所述至少一个开关。

11.根据权利要求9所述的方法，其中：

检测所述多个LED模块的操作包括检测所述LED模块的温度，并且

根据所述LED模块的温度来修改向所述多个LED模块提供的电流。

12.根据权利要求9所述的方法，其中：

检测所述多个LED模块的操作包括检测各所述LED模块的失效或者各所述LED模块的不适当操作，并且

根据检测到的所述多个LED模块中的至少一个LED模块的失效或者不适当操作，来修改向所述多个LED模块提供的电压。

13.根据权利要求9所述的方法，其中所述LED模块串联布置，所述方法还包括：

在检测到所述LED模块中的至少一个LED模块的失效或者不适当操作时，有选择地从所述串联中电气去耦合所述LED模块中的所述至少一个LED模块。

14.根据权利要求13所述的方法，还包括：

根据所述串联中的LED模块的数目来修改向所述多个LED模块提供的电压。

15.一种装置，包括：

处理系统；以及

存储的逻辑，所述存储的逻辑在执行时可操作用以：

检测电路中的多个发光二极管LED模块的操作；以及

响应于检测到的所述LED模块的操作来修改向所述多个LED模块提供的电压或者电流中的至少一项。

16.根据权利要求15所述的装置，其中所述逻辑在检测所述多个LED模块的操作时检测所述LED模块的温度、各所述LED模块的失效或者各所述LED模块的不适当操作中的至少一项，所述电路包括至少一个开关，所述逻辑还可操作用以：

在检测到所述LED的温度在预定义阈值以上、检测到LED模块的失效、或者检测到LED模块的不适当操作时，接合所述至少一个开关。