[发明专利]承载盘及利用该承载盘的光参数量测方法无效
| 申请号： | 201010560716.9 | 申请日： | 2010-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN102478455A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 黄翊彰;邓博文;温伟值;蒋智伟;王泰钧 | 申请（专利权）人： | 惠特科技股份有限公司;广镓光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人： | 张雅军 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 承载 利用 参数 方法 | ||
1.一种承载盘，用于承载至少一个发光源，其特征在于：该承载盘包含一个本体及一个反射件，该反射件安装于该本体与该发光源间以反射该发光源所产生的光线。
2.根据权利要求1所述的承载盘，其特征在于：该反射件具有一个相邻该发光源的硬质透明层，及一个相邻该本体的反射层。
3.根据权利要求2所述的承载盘，其特征在于：该反射件还具有一个位于该反射层与该本体间的保护层。
4.根据权利要求2所述的承载盘，其特征在于：该本体相对该发光源的表面具有一个凹槽，该反射件容置于该凹槽中。
5.根据权利要求1所述的承载盘，其特征在于：该本体相对该发光源的表面还具有多个气孔。
6.根据权利要求2所述的承载盘，其特征在于：该硬质透明层以具有高硬度及高透射率的材质制成。
7.根据权利要求6所述的承载盘，其特征在于：该硬质透明层以硬度5.5以上的材质制成。
8.根据权利要求7所述的承载盘，其特征在于：该硬质透明层的材质为一般玻璃、光学玻璃、石英玻璃、青板玻璃、白板玻璃、强化玻璃或蓝宝石。
9.根据权利要求2所述的承载盘，其特征在于：该反射层是由具有高反射率的材质制成的。
10.根据权利要求9所述的承载盘，其特征在于：该反射层是由反射率90％以上的材质制成的。
11.根据权利要求10所述的承载盘，其特征在于：该反射层的材质为铝、金、银、铬、铑，或上述材料的组合。
12.根据权利要求1所述的承载盘，其特征在于：该反射件为多层介电膜。
13.一种光参数量测方法，用于量测一个发光源的光参数，其特征在于：该量测方法包含下列步骤：
步骤一，制备一个承载盘，该承载盘包括一个本体，及一个安装于该本体与该发光源间以反射该发光源所产生的光线的反射件；
步骤二，将多个发光元件放置于该反射件上；
步骤三，利用点测方式使其中一个发光元件发光而成为该发光源；
步骤四，以一个光学感测器接收分别来自该发光源朝该光学感测器发射的光，及该发光源朝相反该光学感测器发射后经过该反射件反射后的光，并进行量测计算，以得到该发光源的光参数。
14.根据权利要求13所述的光参数量测方法，其特征在于：该反射件是在一个硬质透明层的一个表面镀上一层具有光反射功能的反射层，并于该反射层再镀上一层保护层。
15.根据权利要求14所述的光参数量测方法，其特征在于：该硬质透明层的材质为玻璃，该反射层的材质为银，该保护层的材质为金。
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