[发明专利]卡片操作系统的测试系统及测试方法无效

专利信息
申请号: 201010563569.0 申请日: 2010-11-29
公开(公告)号: CN102479123A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 刘玉军 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 卡片 操作系统 测试 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种卡片操作系统的测试系统。还涉及一种卡片操作系统的测试方法。

背景技术

随着集成电路技术的发展,智能IC卡已经在很多的应用领域得到应用。芯片提供商、卡商或系统集成商都可提供各种类型的卡片操作系统(CardOperating System,简称COS),针对卡片操作系统的测试也就越来越重要。

目前智能卡涉及到的重要领域如身份识别、电子护照、金融、公共交通、社会保障等,为保证规范领域应用的通用性和兼容性,大多制定了相应的应用标准规范,如ISO、ICAO、PBOC2.0、EMV等。如何对如此众多的卡片应用及其卡片操作系统进行测试就显得纷繁复杂。目前更有一卡多用,引入全球平台(GP,Global Platform)及Java技术的流行趋势,更给卡片操作系统的测试带来了复杂变数。在第三方的测试机构,已经在构建卡片操作系统方面走在前面,而建立具有自主知识产权的卡片操作系统测试系统就显得更为重要。

卡片操作系统在卡片大规模的流片(即进行生产)之前,一般会存在几种形式:如ITCOS、DemoCOS和AppCOS等;其中ITCOS为Internal Testing内部测试COS,为用于满足芯片硬件测试需求及为保证芯片设计过程及设计完成后的各项功能、性能而设计的COS,主要对芯片中各个功能模块进行测试,如EEPROM(电可擦写可编程只读存储器)、OTP(一次性可编程只读存储器)、SFR(特殊功能寄存器)和MPU(内存保护单元)等存储模块的测试、CLK/Timer/WatchDog/Reset/CPU/中断控制等模块的测试、随机数/DES/3DES/RSA/ECC/国密算法等安全模块测试甚至射频通讯模块测试等;DemoCOS为演示卡片操作系统,主要提供卡片操作系统(COS)能否满足某种应用后续开发的演示功能;AppCOS为应用COS,是最终提供给客户的,不同应用途径将设计不同的应用指令或个人化指令,包括获取随机数、外部认证、内部认证、选取文件、读二进制文件、读记录文件、验证证书文件等。基于上述的描述,卡片操作系统的测试系统还要满足多种测试需求。同时,COS测试还将涉及到物理电气测试、协议测试、软件测试等。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种卡片操作系统的测试系统,其能完成多种卡片操作系统的测试。

为解决上述技术问题,本发明的卡片操作系统的测试系统,包括:

COS测试套件、COS测试平台软件和COS测试设备;

所述COS测试套件为基于国际国内智能卡领域相关标准用国际标准脚本语言TCL编写而成;

所述COS测试平台软件用于运行COS测试套件进行COS测试;其包括测试脚本管理模块、脚本解析模块、密码算法模块和硬件设备驱动模块;

所述测试脚本管理模块用于接收导入的所述COS测试套件,调用所述密码算法模块和脚本解析模块进行所述COS测试套件中的密钥运算和脚本解析,并将解析后的指令发送到所述硬件设备驱动模块;

所述密码算法模块用于测试脚本管理模块中的密钥运算;所述脚本解析模块用于接收所述测试脚本管理模块中发送的脚本,解析处理后将解析后的信息发送至所述测试脚本管理模块;

所述硬件设备驱动模块连接于所述测试脚本管理模块和所述COS测试设备之间,用于实现所述测试脚本管理模块和所述COS测试设备之间的交互通信。

所述COS测试设备包括读写机具,其连接于所述硬件设备驱动模块和所测智能卡之间,用于实现硬件设备驱动模块和所测智能卡之间的交互通信。

本发明还提供一种卡片操作系统的测试方法,其包括:

(1)用国际标准脚本语言TCL编写COS测试套件;

(2)将所述COS测试套件导入到测试平台软件中的测试脚本管理模块;

(3)测试脚本管理模块调用密码算法模块进行密钥运算,并通过脚本解析模块进行脚本解析;

(4)测试脚本管理模块将解析后指令发送到硬件设备驱动模块;

(5)硬件设备驱动模块将指令信息转发到读卡机具,读卡机具完成与智能卡的交互后将信息依次返回;

(6)测试脚本管理模块对返回信息记录到测试日志,并在全部完成后生成测试报告。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司,未经上海华虹集成电路有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010563569.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top