[发明专利]一种指纹定位误差的评估方法和系统无效
申请号: | 201010564172.3 | 申请日: | 2010-11-24 |
公开(公告)号: | CN102480784A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 贺赢;温亮生;阎啸天 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信集团公司 |
主分类号: | H04W64/00 | 分类号: | H04W64/00;H04B17/00 |
代理公司: | 北京鑫媛睿博知识产权代理有限公司 11297 | 代理人: | 龚家骅 |
地址: | 100032 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 指纹 定位 误差 评估 方法 系统 | ||
1.一种指纹定位误差的评估方法,其特征在于,指纹定位系统设置有各个指纹聚类对应的定位误差预估值,所述指纹聚类包含多个基站信号强度相似的指纹采样点,该方法包括:
指纹定位系统接收用户设备上报的用户实测数据,根据所述用户实测数据和指纹数据库中存储的指纹采样点的信息确定所述用户设备的定位结果;
所述指纹定位系统查询所述定位结果对应的指纹聚类,将查询到的指纹聚类对应的定位误差预估值作为所述用户设备的指纹定位误差。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述定位结果对应的指纹聚类包括:
所述定位结果所属的指纹聚类或者所述定位结果对应的最优指纹所属的指纹聚类。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,各个指纹聚类对应的定位误差预估值通过以下方式存储到指纹定位系统中:
所述指纹定位系统根据指纹数据库中的指纹采样点的基站信号强度,划分指纹聚类;
所述指纹定位系统根据指纹聚类中的多个指纹采样点之间的物理距离,计算各个指纹聚类对应的定位误差预估值,并存储计算得到的定位误差估计值。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述指纹聚类对应的定位误差预估值为所述指纹聚类中的任意两个指纹采样点之间的物理距离的平均值。
5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述指纹定位系统根据指纹数据库中的指纹采样点的基站信号强度,划分指纹聚类,具体为:
当所述指纹数据库中的指纹采样点的数量大于预设阈值时,所述指纹定位系统将多个物理位置相近的指纹采样点划分到同一指纹聚类。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述指纹定位系统根据指纹数据库中的指纹采样点的基站信号强度,划分指纹聚类之后,还包括:
所述指纹定位系统根据各个指纹聚类之间的基站信号强度相似度和/或物理位置,对多个指纹聚类进行合并。
7.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述指纹定位系统根据指纹数据库中的指纹采样点的基站信号强度,划分指纹聚类,具体为:
当所述指纹数据库中的指纹采样点的数量不大于预设阈值时,所述指纹定位系统将每个指纹采样点作为一个指纹聚类;
所述指纹定位系统根据指纹数据库中的指纹采样点的基站信号强度,划分指纹聚类之后,还包括:
所述指纹定位系统根据各个指纹聚类之间的基站信号强度相似度和/或物理位置,对多个指纹聚类进行合并。
8.如权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述指纹定位系统根据各个指纹聚类之间的基站信号强度相似度,对多个指纹聚类进行合并,包括:
所述指纹定位系统针对每任意两个指纹聚类,执行以下步骤:
所述指纹定位系统确定两个指纹聚类中的所有指纹采样点的公共可见基站;
所述指纹定位系统针对所述两个指纹聚类,计算所述公共可见基站的信号强度的分布参数,并根据所述分布参数回归所述信号强度的正态分布函数;
所述指纹定位系统计算所述两个指纹聚类对应的所述公共可见基站的信号强度的正态分布函数的重叠部分的面积,根据所述重叠部分的面积得到所述两个指纹聚类之间的基站信号强度相似度;
当所述基站信号强度相似度大于预设的度量阈值时,所述指纹定位系统对所述两个指纹聚类进行合并。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述度量阈值在0.3到0.7的范围内。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述度量阈值为0.55。
11.如权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述指纹定位系统根据各个指纹聚类的物理位置,对多个指纹聚类进行合并,包括:
当划分得到的指纹聚类仅包含一个指纹采样点时,所述指纹定位系统确定与所述指纹聚类物理位置最近似的邻居指纹聚类,对所述指纹聚类和所述邻居指纹聚类进行合并。
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