[发明专利]测距方法及测距系统

权利要求书

1.一种测距系统，其特征是包括：

一个光源模组，向至少一个第一平面和一个第二平面投射具有一斑点图样的面光源，并向一个待测物投射该面光源，使得该第一平面、该第二平面和该待测物朝向该光源模组的表面呈现该斑点图样的影像，其中该斑点图样具有多个斑点；

一个影像获取装置，获取该第一平面和该第二平面上所呈现的斑点图样的影像，而产生第一参考影像信息和第二参考影像信息，并获取该待测物朝向该光源模组的表面所呈现的斑点图样的影像，而产生待测物影像信息；以及

一个处理模组，耦接该影像获取装置，并取得该第一参考影像信息和该第二参考影像信息，以计算每一该多个斑点的位移向量，且该处理模组还将该待测物影像信息与该第一参考影像信息和该第二参考影像信息二者其中之一比对，以获得每一该多个斑点在该待测物影像信息中的位移信息，再依据对应的位移向量而计算出该待测物与该第一平面或该第二平面的相对距离，其中各该斑点的位移向量，指的是每一该多个斑点分别在该第一平面和该第二平面上的位置的变化量。

2.如权利要求1所述的测距系统，其特征在于：该光源模组包括：

一个激光光源，用以发射一激光光束；以及

一个扩散元件，放置在该激光光束行进的路径上，以接收该激光光束，且该激光光束在该扩散元件中会发生干涉现象和衍射现象，而产生该面光源。

3.如权利要求2所述的测距系统，其特征在于：扩散元件为扩散片、毛玻璃或一个光学衍射元件。

4.如权利要求1所述的测距系统，其特征在于：该影像获取装置为一个摄影机或一个电荷耦合元件。

5.如权利要求1所述的测距系统，其特征在于：该第一平面和第二平面在一个可视范围内是彼此平行，并且基本垂直该面光源的光轴。

6.一种测距方法，其特征在于：包括下列步骤：

投射具有一斑点图样的面光源到至少一个第一平面和一个第二平面上，而该斑点图样具有多个斑点；

分别取得在该第一平面和该第二平面上所呈现的斑点图样的影像，而获得第一参考影像信息和第二参考影像信息；

比对该第一参考影像信息和该第二参考影像信息，而计算每一该多个斑点的位移向量，其中各该斑点的位移向量，指的是每一该多个斑点分别在该第一平面和该第二平面上的位置的变化量；

将该面光源投射到一个待测物上；

取得该待测物朝向该面光源的表面上所呈现该斑点图样的影像，而获得待测物影像信息；以及

依据该待测物影像信息中每一该多个斑点的位置和对应的位移向量，而计算出该待测物与该第一平面或该第二平面之间的相对距离。

7.如权利要求6所述的测距方法，其特征在于：获得该待测物与该第一平面或该第二平面的相对距离的步骤，包括下列步骤：

将该待测物影像信息与该第一参考影像信息和该第二参考影像信息二者其中之一比对，以获得在该待测物影像信息中每一该多个斑点的位移信息；以及

依据所获得各该斑点的位移信息和对应的位移向量，而计算出该待测物与该第一平面或该第二平面间的相对距离。

8.如权利要求7所述的测距方法，其特征在于：还包括下列步骤：

建立一个调整公式和一个调整值查找表二者至少其中之一；以及

依据每一该多个斑点在该待测物影像信息中的位移信息、对应的位移向量、以及该调整公式和该调整值查找表二者至少其中之一，而计算出该待测物的绝对位置。