[发明专利]关于质谱仪的改进

权利要求书

1.一种质谱仪，包括：离子源、反应单元和质量分析器；所述质谱仪界定主离子路径和分支离子路径，其中所述主离子路径在所述离子源与所述质量分析器之间延伸，并且所述主离子路径在含离子光学器件的节点处与分支离子路径交汇，所述离子光学器件用于选择性地引导离子从所述离子源沿所述主离子路径或沿所述分支离子路径向下游移动，所述分支离子路径在所述节点处或在含另外的离子光学器件的另一节点处与所述质量分析器上游的主离子路径再次交汇，所述另外的离子光学器件用于将从所述主离子路径和所述分支离子路径两者入射的离子引导向所述质量分析器，其中反应单元位于所述分支离子路径上的单独部分并且其中紧接在所述质量分析器上游的离子光学器件用于将离子脉冲沿所述主离子路径引导至所述质量分析器。

2.如权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述反应单元用于从所述分支离子路径接收离子，处理所述离子并允许产物离子沿所述分支离子路径向上游方向退回以在所述节点处与所述主离子路径再次交汇。

3.如权利要求2所述的质谱仪，其特征在于，所述节点处的离子光学器件用于引导从所述反应单元向上游回来的离子沿所述主离子路径向下游进行至所述质量分析器。

4.如权利要求1所述的质谱仪，其特征在于，所述反应单元用于从所述分支离子路径接收离子，处理所述离子并允许产物离子沿所述分支离子路径的延伸段向下游方向退出至另一节点。

5.一种具有纵轴的质谱仪，包括：

离子源，用来沿所述轴引导离子；

反应单元，所述反应单元具有位于所述轴上的入口孔；

质量分析器；以及

可在第一模式和第二模式之间进行切换的离子光学器件，在所述第一模式中，来自所述离子源的离子沿所述轴被引导至所述反应单元，并且在所述反应单元中产生的产物离子被引导至所述质量分析器以供分析，并且在所述第二模式中，来自所述离子源的离子被从所述轴偏转并被引导至所述质量分析器以供分析而不进入所述反应单元。

6.如权利要求5所述的质谱仪，其特征在于，所述质量分析器驻留于链接所述离子源和所述质量分析器的主离子路径上，并且所述反应单元驻留于在一具有离子光学器件的节点处与所述主离子路径交汇的分支离子路径上，所述离子光学器件用于选择性地引导离子沿所述主离子路径或所述分支离子路径移动，其中所述分支离子路径和所述主离子路径在所述节点上游的一部分沿所述纵轴延伸。

7.一种具有纵轴的质谱仪，包括：

离子源，用来沿所述轴引导离子；

反应单元；

质量分析器，所述质量分析器具有位于所述轴上的入口孔；以及

可在第一模式与第二模式之间进行切换的离子光学器件，在所述第一模式中，来自所述离子源的离子被从所述轴偏转并被引导至所述反应单元，并且所述反应单元中产生的产物离子被引导回到所述轴并被引导至所述质量分析器的所述入口孔，在所述第二模式中，来自所述离子源的离子沿所述轴被引导至所述质量分析器以供分析而不进入所述反应单元。

8.如权利要求7所述的质谱仪，其特征在于，所述质量分析器驻留于与所述纵轴对应的主离子路径上，并且所述反应单元驻留于在一具有离子光学器件的节点上与所述主离子路径交汇的单独分支离子路径上，所述离子光学器件用于选择性地沿所述主离子路径或所述分支离子路径引导离子。

9.如权利要求5到8中任何一项所述的质谱仪，其特征在于，所述质谱仪被进一步配置成以离子脉冲的形式向所述质量分析器提供所述离子。

10.如权利要求1-8中任何一项所述的质谱仪，其特征在于，所述质量分析器是FT ICR、渡越时间或静电质量分析器中之一。

11.如权利要求1-8中任何一项所述的质谱仪，其特征在于，所述质谱仪还包括位于节点和/或任何另外节点处的离子阱。

12.如权利要求11所述的质谱仪，其特征在于，所述离子阱包括在仅RF电势下工作的电极以及配置成允许将气体引入所述离子阱的进口。

13.如权利要求11所述的质谱仪，其特征在于，所述离子阱是曲型线性阱。

14.如权利要求13所述的质谱仪，其特征在于，所述离子阱用于轴向地和正交地排出离子。