[发明专利]强度调制型光纤传感器测量装置无效
| 申请号： | 201010573067.6 | 申请日： | 2010-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN102486385A | 公开（公告）日： | 2012-06-06 |
| 发明（设计）人： | 杜兵 | 申请（专利权）人： | 西安金和光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26 |
| 代理公司： | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人： | 谭文琰 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 强度 调制 光纤 传感器 测量 装置 | ||
1.强度调制型光纤传感器测量装置，其特征在于：包括脉冲光源(10)、1×2光分路器一(12)、1×2光分路器二(20)、强度调制型光纤传感器(16)、光反射器一(13)、光反射器二(14)、光探测器一(9)、光探测器二(11)、差分放大器(22)和数据处理单元(23)，所述脉冲光源(10)与1×2光分路器一(12)的输入端连接，所述1×2光分路器一(12)的输出端通过光纤与1×2光分路器二(20)的输入端连接，所述1×2光分路器二(20)的两个输出端分别通过光纤一(1)和光纤延迟线(21)与光探测器一(9)和光探测器二(11)的输入端连接，所述光探测器一(9)和光探测器二(11)的输出端与差分放大器(22)的输入端连接，所述差分放大器(22)的输出端与数据处理单元(23)连接；所述1×2光分路器一(12)的输出端与光强度调制传感器连接，所述光反射器一(13)和光反射器二(14)分别设置在强度调制型光纤传感器(16)两侧，且所述光反射器一(13)位于1×2光分路器一(12)与强度调制型光纤传感器(16)之间。
2.根据权利要求1所述的强度调制型光纤传感器测量装置，其特征在于：所述光纤延迟线(21)的长度等于光纤一(1)与光反射器一(13)和光反射器二(14)之间光纤长度之和。
3.根据权利要求1所述的强度调制型光纤传感器测量装置，其特征在于：所述的1×2光分路器(20)是分光比为50∶50的光分路器。
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