[发明专利]光盘装置无效
申请号: | 201010573152.2 | 申请日: | 2010-11-30 |
公开(公告)号: | CN102081933A | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
发明(设计)人: | 今井猛 | 申请(专利权)人: | 日立乐金资料储存股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/085 | 分类号: | G11B7/085;G11B7/095 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 装置 | ||
1.一种光盘装置,能够再现具有3层以上记录层的光盘,其特征在于,包括:
激光二极管,其发射激光;
光电二极管,其接收被所述光盘反射的所述激光的反射光,对接收到的所述反射光进行光电变换并加以输出;
光学系统,其包含物镜,利用所述物镜使从所述激光二极管发射的激光会聚到所述光盘的记录层上,并利用所述物镜将由所述光盘反射的反射光导向所述光电二极管;
信号处理部,其根据所述光电二极管的输出生成聚焦误差信号;
处理器,其根据由所述信号处理部生成的聚焦误差信号来检测所述记录层;和
致动器,其使包含在所述光学系统中的所述物镜在所述光盘的厚度方向上移动,其中
所述处理器,
通过控制所述致动器来使所述物镜在所述光盘的厚度方向上移动,并且,对在移动所述物镜的期间分别检测到各所述记录层的时间间隔进行测量,
将从第一次检测到所述记录层至第二次检测到所述记录层的第一时间间隔与从第二次检测到所述记录层至第三次检测到所述记录层的第二时间间隔进行比较,
根据比较结果,判定所述物镜的焦点位置。
2.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于,
所述处理器,
在所述第一时间间隔比所述第二时间间隔的大于1的规定数倍大的情况下,判定为将所述光盘的表面误检测成了所述记录层,
根据该判定结果和所述记录层的数量,判定当前的所述物镜的焦点位置,
在使所述物镜的焦点位置移动到所述光盘中第三次检测到的所述记录层上之后,使该物镜的焦点位置移动到成为目标的记录层上。
3.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于,
所述处理器,
在使所述物镜移动的同时,对所述第一时间间隔与所述第二时间间隔进行比较。
4.如权利要求1所述的光盘装置,其特征在于,
所述处理器,
在所述第一时间间隔比所述第二时间间隔的大于1的规定数倍小的情况下,根据检测到的所述S形振幅的数量来判定所述物镜的焦点位置。
5.如权利要求1所述光盘装置,其特征在于,
所述处理器,对在脉冲切割区域中检测到所述记录层的时间间隔进行测定。
6.一种光盘装置,能够再现具有3层以上记录层的光盘,其特征在于,包括:
激光二极管,其发射激光;
光电二极管,其接收被所述光盘反射的所述激光的反射光,对接收到的所述反射光进行光电变换并加以输出;
光学系统,其包含物镜,利用所述物镜使从所述激光二极管发射的激光会聚到所述光盘的记录层上,并利用所述物镜将由所述光盘反射的反射光导向所述光电二极管;
信号处理部,其根据所述光电二极管的输出生成聚焦误差信号;
处理器,其根据由所述信号处理部生成的聚焦误差信号来检测所述记录层;和
致动器,其使包含在所述光学系统中的所述物镜在所述光盘的厚度方向上移动,其中
所述处理器,
通过控制所述致动器来使所述物镜在所述光盘的厚度方向上移动,并且,对在移动所述物镜的期间分别检测到各所述记录层时的所述致动器的驱动电压分别进行测量,
将第一次检测到所述记录层时的所述驱动电压和第二次检测到所述记录层时的所述驱动电压之间的第一电位差,与第二次检测到所述记录层时的所述驱动电压和第三次检测到所述记录层时的所述驱动电压之间的第二电位差进行比较,
根据比较结果,判定所述物镜的焦点位置。
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