[发明专利]图像读取装置

说明书

技术领域

本发明涉及对特定像素进行修正的图像读取装置。

背景技术

以复印机为代表的具有二维信息的介质的图像读取装置中，一般使用所谓的线型传感器。线型传感器在读取宽度方向(主扫描方向)上具有多个光电转换元件(受光部)，根据读取宽度、光学分辨率或组成的光学系统(成像系统)的性能决定像素数或像素密度。作为代表性的线型传感器的例子，可以举出使用了CCD(电荷耦合器件(Charge·Coupled·Device))或CMOS工艺的光电二极管阵列等。由于都是半导体器件，由于制造工序中的异物的影响等会发生一定的不良。通过使用线型传感器使读取对象物相对移动得到二维图像的图像读取装置中，异物等造成的不良是使原图像中没有的条纹图像产生的原因。因此，在对以半导体制造工艺的不良率降低为对象的技术进行研究的同时，也一直在对修正像素缺陷的技术进行研究。

例如，日本专利特开平10-308901号公报图2(参照专利文献1)中，披露了一种缺陷检测修正电路，在该电路中，地址检测电路24根据检测器22提取出的缺陷信号确定画面内的缺陷像素的地址，将该地址数据存储到地址存储电路25中，通过地址存储电路25提供的地址数据，在缺陷像素被输出的时刻产生缺陷修正脉冲，用周边像素的像素信号对缺陷像素进行插补。

日本专利特开2004-356933号公报第0018段(参照专利文献2)中，披露了一种图像处理，该处理基于丢失像素两侧多个受光元件的各像素数据，对排成一排的受光元件中丢失像素的像素数据进行推算，输出较接近于原来的原稿图像的图像。

专利文献1：日本专利特开平10-308901号公报(图2)

专利文献2：日本专利特开2004-356933号公报(第0018段)

发明内容

然而，由于专利文献1披露的技术通过产生修正用脉冲来确定CCD输出中的缺陷像素的缺陷信号，因此存在电路构成复杂的问题。

由于专利文献2中披露的技术通过丢失像素两侧的受光元件的像素数据对排成一排的受光元件中丢失像素的像素数据进行推算，因为没有对于排成多列的受光元件的记载，因此存在对处理彩色图像等高级图像的情况不适用的问题。

本发明为解决上述问题而作，其目的是提供一种通过对特定像素实施高保真度的修正来进行高精度读取的图像读取装置。

本发明所涉及的图像读取装置包括：第一计算单元，该第一计算单元根据被配置在与被确定的受光部相邻的读取宽度方向上的受光部的光电转换输出值来计算输出值；第二计算单元，该第二计算单元对两个值的比值进行计算，其中一个值是距离被确定的受光部配置在传送方向侧的受光部的输出值，另一个值是与距离被确定的受光部配置在传送方向侧的受光部相邻的、配置在读取宽度方向上的受光部的光电转换输出值；以及像素修正电路部，该像素修正电路部将通过第一计算单元和第二计算单元所得到的值相乘，以该值替换像素检测电路被确定的受光部的像素位置输出值后，与像素检测电路所未被确定的受光部的像素位置输出值一起进行列输出。

根据本发明的图像读取装置，使用与确定像素不同的像素在该区域读取到的数据，将特定像素应该读取的来自照射对象的光信息转换成图像信号，从而具有获得高读取精度的图像读取装置的效果。

附图说明

图1是本发明实施方式1所涉及的图像读取装置的组装展开图。

图2是本发明实施方式1所涉及的图像读取装置的传感器基板上所形成的受光部的俯视图。

图3是本发明的实施方式1所涉及的图像读取装置的框图。

图4是对本发明实施方式1所涉及的图像读取装置的缺陷像素进行说明的像素列的俯视图。

图5是本发明的实施方式2所涉及的图像读取装置的框图。

图6是安装在图像读取装置上的光学系统部分的剖面图。

图7是图像读取装置的时序图，图7(a)是RGB波形，图7(b)是延迟后的RGB波形。

图8是对本发明的实施方式2所涉及的图像读取装置的缺陷像素再修正电路部进行说明的框图。

标号说明

1··光源

2··基板

3··柔性基板

4··照射对象(原稿)

5··导光体

5a··光散射层

6··托架

7··壳体

8··透射体

8a··读取线

9··透镜体(棒形透镜阵列)

10··传感器基板

10r··受光部(红色滤色片的受光部)

10g··受光部(绿色滤色片的受光部)