[发明专利]伪造印文的检验方法以及记录介质

权利要求书

1.一种伪造印文的检验方法，其特征在于，从原件印章生成(ST-110)基准印文，通过原件印章生成(ST-120)对比印文的生成阶段(ST-101)；对上述生成阶段(ST-101)生成的基准印文和对比印文进行比较，运算(ST-130)对比印文对基准印文的特性值，对比基准印文和比较印文运算(ST-140)比较对基准印文的特性值的运算阶段(ST-121)；在上述运算阶段(ST-121)对比基准印文和对比印文取得的特性值和，对比基准印文和比较印文获得的特性值进行比较的阶段(ST-150)构成。

2.权利要求1所述的伪造印文的检验方法，其特征在于，在上述运算阶段(ST-121)对准(ST-131)基准印文和对比印文的位置和角度，运算(ST-130)对比印文对基准印文的特性值，对准(ST-141)基准印文和比较印文的位置和角度，运算(ST-140)比较印文对基准印文的特性值。

3.权利要求1或2所述的伪造印文的检验方法，其特征在于，上述特性值为对比基准印文运算的填充率，上述基准印文填充率的运算式为(这里，n(A)为基准印文的盖印领域面积，n(B)为对比印文的盖印领域面积，n(B_out)为不属于基准印文盖印领域的对比印文的盖印领域面积)，上述比较印文填充率的运算式为(这里，n(A)为基准印文的盖印领域面积，n(B)为比较印文的盖印领域面积，n(B_out)为不属于基准印文盖印领域的比较印文的盖印领域面积)。

4.权利要求1或权利要求2所述的伪造印文的检验方法，其特征在于，上述特性值为对比基准印文运算的出错率，上述对比印文出错率的运算式为(这里，n(B_out)为不属于基准印文盖印领域的对比印文盖印领域面积，n(B)为对比印文的盖印领域面积)，上述比较印文出错率的运算式为(这里，n(B_out)为不属于基准印文盖印领域的比较印文盖印领域面积，n(B)为比较印文的盖印领域面积)。

5.权利要求1或权利要求2所述的伪造印文的检验方法，其特征在于，上述特性值为对比基准印文运算的填充率和出错率，上述对比印文填充率的运算式为(这里，n(A)为基准印文的盖印领域面积，n(B)为对比印文盖印领域的面积，n(B_out)为对比印文的第二领域面积)，上述比较印文填充率的运算式为(这里，n(A)为基准印文的盖印领域面积，n(B)为比较印文的盖印领域面积，n(B_out)为比较印文的第二领域面积)，上述对比印文出错率的运算式为(这里，n(B_out)为不属于基准印文盖印领域的对比印文盖印领域的面积，n(B)为对比印文盖印领域的面积)，上述比较印文出错率的运算式为(这里，n(B_out)为不属于基准印文盖印领域的比较印文盖印领域的面积，n(B)为比较印文的盖印领域面积)。

6.一种伪造印文的检验方法，其特征在于，通过原件印章输入复数个准备印文的阶段(ST-200)；按领域分离(ST-210)上述输入阶段所输入的准备印文，在复数个准备印文中整合盖印领域生成基准印文的阶段(ST-230)；按领域分离所输入的伪造检验对象比较印文的阶段(ST-240)；在上述基准印文和比较印文中整合盖印领域的阶段(ST-290)；上述的整合阶段后，运算比较印文对基准印文的特性值的阶段(ST-300)组成。