[发明专利]一种光谱样块用简易检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检查装置，尤其涉及一种光谱样块用简易检查装置。

背景技术

目前的光谱样块检查工序在中转包中取样，送到光谱室进行检测。具体来说，在此期间光谱室须将样块作切削加工平整后才能准确作光谱分析。但是样块作切削加工目前是送到(CNC)车床来加工，一是有杀鸡用牛刀的感觉，二是(CNC)车床是有生产任务的，样块加工材质不同，又得中断生产，三是没有生产任务时(CNC)车床无人操作，影响样块加工，四是安排一专人来为车样块又浪费人力成本。并且，即使是使用普通车床来加工，由于不同的样块的大小不同，使得每件加工时都要花较多时间来加工。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种光谱样块用简易检查装置。

为实现本发明的目的一种光谱样块用简易检查装置，包括有装置支架，所述的装置支架上端分布有检查台板，其中：所述的检查台板上至少分布有三个勾爪，所述的三个勾爪之间预留有光谱样块卡接空间。

进一步地，上述的一种光谱样块用简易检查装置，其中，所述的三个勾爪呈圆环状等距离分布。

更进一步地，上述的一种光谱样块用简易检查装置，其中，所述的勾爪上分布有引导斜面。

采用本发明技术方案，其占地面积小，在试验室内可以存放，不会影响到工厂本身的布局改变。更为重要的是，本发明无需对样块进行切削加工的平整工序，提升了检测速度。并且，配合专用样块模具使用效果最佳。

本发明的目的、优点和特点，将通过下面优先实施例的非限制性说明进行图示和解释，这些实施例是参照附图仅作为例子给出的。

附图说明

图1是本光谱样块用简易检查装置的正面使用示意图；

图2是本光谱样块用简易检查装置的侧面使用示意图

图3是勾爪上带有引导斜面的构造示意图；

图4是勾爪上带有引导斜面的使用示意图。

图中各附图标记的含义如下：

1检查台板    2勾爪

3光谱样块    4引导斜面

具体实施方式

如图1～4所示的一种光谱样块用简易检查装置，包括有装置支架，在装置支架的上端分布有检查台板1，其特别之处在于：本发明所采用的检查台板1上至少分布有三个勾爪2。并且，该三个勾爪2之间预留有光谱样块卡接空间。

结合本发明一较佳的实施方式来看，为了能够适应绝大多数的光谱样块3，实现第一时间的定位取样，本发明所采用的三个勾爪2呈圆环状等距离分布。同时，考虑到操作人员取放光谱样块3的便捷程度，在勾爪2上分布有引导斜面4。这样，还能够避免勾爪2对光谱样块3的外围进行刮伤的情况。

从本发明的实施过程来看，其操作过程十分便捷，使用者仅需要将光谱样块3放置到卡接空间内，即可实现三个勾爪2对光谱样块3的卡接定位。免去了将样块作切削加工平整的过程。

通过上述的文字表述并结合附图可以看出，采用本发明后，其占地面积小，在试验室内可以存放，不会影响到工厂本身的布局改变。更为重要的是，本发明无需对样块进行切削加工的平整工序，提升了检测速度。并且，配合专用样块模具使用效果最佳。

当然，以上仅是本发明的具体应用范例，对本发明的保护范围不构成任何限制。除上述实施例外，本发明还可以有其它实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本发明所要求保护的范围之内。