[发明专利]集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法无效

专利信息
申请号: 201010579154.2 申请日: 2010-12-08
公开(公告)号: CN102560771A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 李伟;胡新立;郭康;周玉洁;邢欣 申请(专利权)人: 天津纺织工程研究院有限公司
主分类号: D01H13/32 分类号: D01H13/32;D01H5/72
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300308 天津市空港*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 集聚 纺纱 网格 空隙 测试 方法
【说明书】:

(一)技术领域

发明涉及一种纺织领域的检测方法,特别是涉及一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法。

(二)背景技术

集聚纺纱用网格圈,简称网格圈,是新型纺纱方式——集聚纺纱的一种关键器材件,其在提高纱线的强力,降低毛羽,降低纺纱成本起着关键作用。网格圈空隙率是指单位面积未被经、纬丝覆盖的空隙百分数,其指标的大小对网格圈能否起到集聚的作用有直接的影响。因此网格圈的制造企业和使用企业必须准确掌握该指标。

目前网格圈的空隙率均是以理论计算值代替实际值,不能如实地反映网格圈空隙率的实际情况,纺织企业在选择网格圈型号时基本上采取小批量、多规格试用的方法确定网格圈的规格型号,浪费了大量的时间,增加了不必要的成本支出。

(三)发明内容

本发明鉴于上述情况,提供了一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法。

本发明的技术方案是这样实现的。

本发明的测试方法,在不破坏网格圈的情况下,采用光通量比较法测量网格圈的空隙率,测量精度可达±0.1%。该方法可适用于各种规格的网格圈空隙率的测量。

本发明的测试方法的原理是:用一束光强为I0的匀强平行光,通过一垂直放置的光栅,通光面积为S,则通过光栅的光通量为ф0,则ф0=I0×S,以ф0为基准。当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈,则通过光栅的光通量ф=I×S。则光通量ф与基准光通量ф0的比为网格圈的空隙率K,即K=ф/ф0,这样可直接测得网格圈的空隙率。

本发明的有益效果是:该检测方法采用光通量比较法测量网格圈空隙率,影响因素小,测量快捷方便,测量精度高,不破坏网格圈,是一种切实可行的方法。该方法的提出,为网格圈制造企业和使用企业提供了一个有效的检测方法,为产品质量的提高提供了依据。

(四)具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明。

1、技术原理

用一束光强为I0的匀强平行光,通过一垂直放置的光栅,通光面积为S,则通过光栅的光通量为ф0,则ф0=I0×S,以ф0为基准。当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈,则通过光栅的光通量ф=I×S。则光通量ф与基准光通量ф0的比为网格圈的空隙率K,即K=ф/ф0,这样可直接测得网格圈的空隙率。

2、误差分析

①光衍射损失的影响

根据惠更斯原理,光通过障碍物后发生绕射现象,边缘部分不沿直线传播,造成衍射损失。但由于网格圈网孔的最小尺寸超过光波长的100倍,接受面距衍射孔距离很近,且是多孔积分影响,因此衍射损失很小。

②光波导的影响

光波从光疏媒质射向光密媒质时,如果掠射角较小(约小于5°)时,会发生全反射,影响光通量的接受。但光栅的截面形状采用喇叭口形时,避免了小掠射角的产生,同时网格圈厚度约为0.1mm,即光波导很短,因此,光波导的影响很小。

综上所述,采用光通量比较法测量网格圈空隙率,影响因素小,测量快捷方便,测量精度高,不破坏网格圈,是一种切实可行的方法。

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