[发明专利]液晶显示器基板的配向膜印刷方法及装置有效
申请号: | 201010579670.5 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102096242A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 李斌;施翔尹;詹政川;李为钧;贺成明 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1337 | 分类号: | G02F1/1337 |
代理公司: | 广东国晖律师事务所 44266 | 代理人: | 欧阳启明 |
地址: | 518057 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶显示器 印刷 方法 装置 | ||
1.一种液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,包括:
获得一基板的多个基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布的所述多个基板单元中包含一个或多个不良品基板单元;
将所述位置信息发送至一工艺管理系统;
通过所述工艺管理系统将所述位置信息传送至一第一配向膜印刷设备,所述第一配向膜印刷设备用于对所述基板进行一配向膜印刷操作;及
所述第一配向膜印刷设备在印刷所述基板的步骤中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行所述配向膜印刷操作。
2.根据权利要求1所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,
所述工艺管理系统在获得所述位置信息后,进一步实施如下步骤:
确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施所述配向膜印刷操作,如超过阈值则停止对所述基板进行所述配向膜印刷操作。
3.根据权利要求1所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,
在所述工艺管理系统在将所述位置信息传送至所述第一配向膜印刷设备的步骤中,进一步包括:
将所述位置信息传送给用于检测所述第一配向膜印刷设备工艺质量的一第一检测设备,使所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。
4.根据权利要求1所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,
所述工艺管理系统在获得所述位置信息后,进一步实施如下步骤:
将所述位置信息传送给一第二配向膜印刷设备,所述第二配向膜印刷设备用于印刷与所述基板相对应的一对组基板;及
所述第二配向膜印刷设备在印刷所述对组基板时,根据获得的所述位置信息排除对所述对组基板的对应基板单元进行配向膜印刷操作。
5.根据权利要求4所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,
在所述工艺管理系统在将所述位置信息传送至所述第二配向膜印刷设备的步骤中,进一步包括:
将所述位置信息传送给检测所述第二配向膜印刷设备工艺质量的一第二检测设备,使所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。
6.一种液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,包括:
一信息获取模块,用于获得一基板的多个基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布的所述多个基板单元中包含一个或多个不良品基板单元;
一第一信息传送模块,用于将所述位置信息发送至一工艺管理系统;
一第二信息传送模块,用于使所述工艺管理系统将所述位置信息传送至一第一配向膜印刷设备,所述第一配向膜印刷设备用于对所述基板进行一配向膜印刷操作;及
一第一配向膜印刷设备控制模块,用于控制所述第一配向膜印刷设备在所述配向膜印刷操作中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行所述配向膜印刷操作。
7.根据权利要求6所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,
在所述第一信息传送模块与第二信息传送模块之间,进一步包括:
一良率判断模块,用于确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施所述配向膜印刷操作,如超过阈值则停止对所述基板进行所述配向膜印刷操作。
8.根据权利要求6所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,
所述第二信息传送模块进一步进行如下步骤:
将所述位置信息传送给用于检测所述第一配向膜印刷设备工艺质量的一第一检测设备;及
所述配向膜印刷装置进一步包括一第一检测设备控制模块,用于控制所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。
9.根据权利要求6所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,
在所述第一信息传送模块之后,进一步包括:
一第三信息传送模块,用于将所述位置信息传送给一第二配向膜印刷设备,所述第二配向膜印刷设备用于印刷与所述基板相对应的一对组基板;及
一第二配向膜印刷设备控制模块,所述第二配向膜印刷设备在印刷所述对组基板时,根据获得的所述位置信息排除对所述对组基板的对应基板单元进行配向膜印刷操作。
10.根据权利要求9所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,
所述第三信息传送模块进一步进行如下步骤:
将所述位置信息传送给用于检测所述第二配向膜印刷设备工艺质量的一第二检测设备;及
所述配向膜印刷装置进一步包括一第二检测设备控制模块,用于控制所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。
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