[发明专利]基于安全的扫描链控制电路、扫描链测试电路及使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种扫描链测试电路，特别涉及一种扫描链测试电路中的控制电路。

背景技术

由于测试成本的考虑，扫描链测试方法已经被广泛接受，比如扫描链测试。但是由于安全类芯片基于安全考虑，如果使用最原始的功能测试方法，使得测试成本无法降低。而如果采用扫描链测试方法的话，安全无法得到保障。因为在现有的扫描链测试方法中，扫描链测试电路中的所有寄存器的控制信号时钟CLK、复位RST、扫描模式TEST_MODE和扫描移位使能SCAN_EN都由外部引脚直接控制(见图1)，用户随时可以读出任意寄存器的数值，使得整个芯片没有任何秘密可言。

对于社保类芯片来说，安全是第一要素，安全本身包含芯片中的部分逻辑不可见。显然，传统的扫描链测试方法违背了此需求。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种基于安全的扫描链测试电路，其能安全防护。

为解决上述技术问题，本发明的基于安全的扫描链测试电路，其包括控制电路，该控制电路包含一次可编程器件单元和组合逻辑单元；一次可编程器件单元连接至组合逻辑单元，组合逻辑单元连接至所有扫描链；所述扫描链中的扫描模式和扫描移位使能这两个控制信号由一次可编程器件通过组合逻辑提供给所有扫描链，所述扫描链中的其他控制信号由外部引脚提供。

本发明还公开一种使用扫描链测试电路的方法，为在出厂前，采用一次可编程器件单元提供的扫描模式和扫描移位使能这两个控制信号进行测试；测试完毕后，修改一次可编程器件单元中的一次可编程器件值，使控制信号失效。

本发明的扫描链控制电路，采用OTP器件单元加组合逻辑的形式来取代外部引脚提供扫描模式TEST_MODE和扫描移位使能SCAN_EN控制信号给扫描链进行测试。而在测试完成之后，修改OTP值令控制信号失效，使得用户进不了扫描链模式，从而解决了普通用户通过扫描链窥探芯片内部的安全信息的问题。且本发明的控制电路中所使用的OTP器件可为芯片中现存的OTP器件，不需要额外增加。本发明把扫描链的部分控制信号从引脚移到OTP器件中，解决安全问题，而所采用的OTP器件可为芯片中多余的OTP器件，同时还减少的输入输出引脚的开销。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1为现有的扫描链控制信号提供示意图；

图2为本发明的扫描链控制信号提供示意图。

具体实施方式

本发明的控制电路(见图2)包含OTP(一次可编程器件)单元和组合逻辑单元；一次可编程器件单元的输出连接至组合逻辑单元，而组合逻辑单元连接至所有扫描链；扫描链中的扫描模式TEST_MODE和扫描移位使能SCAN_EN这两个控制信号由一次可编程器件通过组合逻辑提供给所有扫描链。而扫描链的其他控制信号还是通过外部引脚来提供。

OTP单元的输出经过特定的组合逻辑单元后输出具体的TEST_MODE和SCAN_EN控制信号。这里的组合逻辑单元内没有严格的限制，根据需求进行组合，可以是最简单的直接连接，也可以是较为复杂的数学运算，目的是给所有扫描链提供TEST_MODE，SCAN_EN这两个控制信号。如在输出两个OTP信号的情况下，可为直接连接，将这两个OTP信号输出给扫描链。而当输出为两个以上的OTP信号的情况下，就可以通过组合逻辑做些数学运算，使最终输出的为两个有效信号，输出给扫描链，这样能更好的保证了安全性(即使得用户更难获取安全信息)。

本发明的扫描链测试电路，为包括上述的控制电路，用于提供扫描链测试中的扫描模式TEST_MODE和扫描移位使能SCAN_EN这两个控制信号。

本发明的扫描测试电路的使用方法为：出厂前，根据OTP的初始配置(即初始值)进入扫描链状态，进行量产测试；所有测试完毕后，修改OTP值，使得扫描链控制信号失效。本发明中所使用的OTP器件，可采用芯片的原有设计中富余的OTP器件，同时可减少输入输出引脚的支出，因此减低了测试成本。

由于OTP的特性为只能修改一次，因此在修改OTP值之后，用户就进不了扫描链模式，从而解决了用户通过扫描链窥探芯片内部安全信息的问题。