[发明专利]井下套管壁厚测量方法有效

专利信息
申请号: 201010585175.5 申请日: 2010-12-13
公开(公告)号: CN102061911A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 吉人;殷增华;刘文龙;赵中明 申请(专利权)人: 中国石油集团川庆钻探工程有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B33/14
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 毛光军
地址: 610051 四川省成都市成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 井下 管壁 测量方法
【权利要求书】:

1.一种井下套管壁厚测量方法,其特征在于:根据远近探测器的计数率曲线,消除地层密度与水泥环密度对套管壁厚计算值的影响,利用回归方法,建立套管壁厚计算公式计算得出套管壁厚度。

2.根据权利要求1所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于:所述套管壁厚计算公式的建立方法为,根据近探测器计数率TL、远探测器计数率PL,利用回归方法建立计算公式:

TH=THST - K*LN(TL/TLST)+LN(PL/PLST)+△TH

上式中,TH为计算壁厚值,THST为标准套管壁厚值,K为刻度系数,TL为近探测器计数率值,TLST为标准取值井段平均计数率值,PL为远探测器计数率值,PLST为标准取值井段平均计数率值,△TH为地层密度和水泥环密度在套管壁厚计算时的校正量。

3.根据权利要求2所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于:地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△TH为一元二次关系,水泥浆密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△TH为一元一次关系,利用回归方法,得到△TH的表达式:

           △TH= (-0.75ρ 2地层+5.24ρ地层-1.54ρ水泥浆)-8

其中, THST为标准套管壁厚值,ρ地层为地层密度,ρ水泥浆为水泥浆密度。

4.根据权利要求3所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于:利用地层密度不同时,地层密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△TH的关系,得出地层密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△TH的关系为一元二次关系式。

5.根据权利要求3或4所述的井下套管壁厚测量方法,其特征在于:利用水泥环密度不同时,水泥环密度和套管标准值与套管壁厚计算值之差△TH的关系,得出水泥环密度与套管标准值与套管壁厚计算值之差△TH的关系为一元一次关系式。

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