[发明专利]射频信号测试连接结构及射频信号测试优化方法无效
| 申请号： | 201010585697.5 | 申请日： | 2010-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN102013930A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 曹生法;王浩 | 申请（专利权）人： | 上海市共进通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁;郑暄 |
| 地址： | 200235 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射频 信号 测试 连接 结构 优化 方法 | ||
1.一种射频信号测试连接结构，包括射频测试仪器，其特征在于，被测试产品上设置有射频信号测试点，所述的射频测试仪器通过射频电缆与一探针式射频头相连接，所述的探针式射频头的端部探针与所述的射频信号测试点相接触连接。
2.根据权利要求1所述的射频信号测试连接结构，其特征在于，所述的射频信号测试点设置于所述的被测试产品上的天线连接器相对的一面。
3.根据权利要求1所述的射频信号测试连接结构，其特征在于，所述的射频信号测试点的大小与所述的探针式射频头的端部探头的接触面大小相匹配。
4.根据权利要求1所述的射频信号测试连接结构，其特征在于，所述的射频信号测试点为该被测试产品的硬件PCB电路板上的布线中的天线连接器接口的射频信号露铜部分和地信号露铜部分。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的射频信号测试连接结构，其特征在于，所述的探针式射频头夹持设置于一定位夹具中。
6.一种基于权利要求1所述的测试连接结构实现射频信号测试优化的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：
(1)在所述的被测试产品设计过程中，在该被测试产品上预留设置相应的射频信号测试点；
(2)将所述的探针式射频头的端部探针与所述的被测试产品上的射频信号测试点相接触连接；
(3)按照射频测试规范对该被测试产品进行后续的射频指标测试。
7.根据权利要求6所述的实现射频信号测试优化的方法，其特征在于，所述的在被测试产品上预留设置相应的射频信号测试点，具体为：
在被测试产品的硬件PCB电路板上的布线中预留的天线连接器接口的射频信号露铜部分和地信号露铜部分。
8.根据权利要求6所述的实现射频信号测试优化的方法，其特征在于，所述的步骤(2)后还包括以下步骤：
(21)将所述的探针式射频头夹持固定于一定位夹具。
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