[发明专利]用COB灌胶封装制作SMD的方法无效
申请号: | 201010585845.3 | 申请日: | 2010-12-14 |
公开(公告)号: | CN102097340A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 陈光 | 申请(专利权)人: | 沈阳中光电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 | 代理人: | 郭元艺 |
地址: | 110141 辽宁省沈*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cob 封装 制作 smd 方法 | ||
技术领域
本发明属芯片封装技术领域,尤其涉及一种用COB灌胶封装制作SMD的方法。
背景技术
用COB技术封装的裸芯片是芯片主体和I/O端子在晶体上方,在焊接时将此裸芯片用导电/导热胶粘接在PCB上,凝固后,用 Bonder 机将金属丝(Al或Au)在超声、热压的作用下,分别连接在芯片的I/O端子焊区和PCB相对应的焊盘上,测试合格后,再封上树脂胶。
现有技术COB灌装SMD产品,在具体工艺上大致存在两种情况:(1)采用自由形状点胶方式,这种方式是直接把液态的EMC点滴到PCB上芯片和金线的位置,依靠重力及EMC的表面张力来形成一个水滴状的EMC。采用这种方式,势必造成SMD成品的EMC表面呈现不规则形状;(2)封装后留有边框的方式,这种方式是每个制品都有一个边框,在边框中填注EMC,这种方式,因为边框最终是跟制品一体的,所以粘接边框是对机械精度要求很高而且因为注入EMC的数量较小,其表面有明显的凸面或凹面。
发明内容
本发明旨在克服现有技术的不足之处而提供一种兼容性好,EMC封装无需特定模具,EMC注入工序作业简单,无需太高尺寸精度,封装后,制品表面平整度高的用COB灌胶封装制作SMD的方法。
为达到上述目的,本发明是这样实现的。
一种用COB灌胶封装制作SMD的方法,它包括如下步骤:(1)芯片固晶,将芯片粘接在PCB上的指定位置;(2)金线绑定,将芯片与相应的PCB上的金属焊盘用金线键合进行电气连接;(3)注胶边框粘接,在功能区边沿用边框围住,以准备下一步的注胶操作;(4)注胶并固化,向边框区域内注入液态的EMC,注胶完毕后加热使EMC固化;(5)分离,将各个制品进行分离。
作为一种优选方案,本发明在步骤(3)中,注胶前使用填充物把PCB上的过孔塞住以防止胶液向背面渗漏。
作为另一种优选方案,本发明在步骤(5)中,使用划片机完成制品分离。
本发明兼容性好,EMC封装无需特定模具,EMC注入工序作业简单,无需太高尺寸精度,封装后,制品表面平整度高。
本发明因为边框的存在,能够形成一个十分规则的平面。另外,由于本发明的边框最终是要除掉的,所以对其粘接的机型精度要求较低,而其因为是多个制品区域作为一个整体来注胶的,一次注胶的量相对较大,最终胶液的表面能够较容易的控制其平整度。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步说明。
图1为本发明的制成品整体结构示意图。
图2为本发明图1的仰视图。
图3为本发明分割作业工序示意图。
图中:1为EMC层;2为芯片;3为PCB层;4为焊盘;5为金线。
具体实施方式
参见图1~3,用COB灌胶封装制作SMD的方法,它包括如下步骤:(1)芯片固晶,将芯片粘接在PCB上的指定位置;(2)金线绑定,将芯片与相应的PCB上的金属焊盘用金线键合进行电气连接;(3)注胶边框粘接,在功能区边沿用边框围住,以准备下一步的注胶操作;注胶前使用填充物把PCB上的过孔塞住以防止胶液向背面渗漏;(4)注胶并固化,向边框区域内注入液态的EMC,注胶完毕后加热使EMC固化;(5)分离,使用划片机完成制品分离。
如图1所示,用COB灌胶封装方法制作SMD的成品,它包括EMC层1、芯片2、PCB层3及固接于PCB层3上的焊盘4;所述芯片2与PCB层3固定粘接;所述芯片2经金线5与焊盘4键合连接;所述EMC层1与PCB层固定封接;所述EMC层1的表面呈平面。
可以理解地是,以上关于本发明的具体描述,仅用于说明本发明而并非受限于本发明实施例所描述的技术方案,本领域的普通技术人员应当理解,仍然可以对本发明进行修改或等同替换,以达到相同的技术效果;只要满足使用需要,都在本发明的保护范围之内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造