[发明专利]逻辑内建自测试系统有效
申请号: | 201010587164.0 | 申请日: | 2010-12-14 |
公开(公告)号: | CN102565685A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 唐飞 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区谱芯科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 杨林洁 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 逻辑 测试 系统 | ||
1. 一种逻辑内建自测试系统,包括:测试向量生成系统及与测试向量生成系统相连的测试机,所述测试机用以与被测电路连接在一起,其特征在于:所述测试向量生成系统包括测试软件服务器及可以登陆装有该测试软件服务器的操作界面,通过操作操作界面可以启动测试软件进而生成逻辑内建自测试向量;所述测试软件服务器与测试机通过网络相连,并且生成的逻辑内建自测试向量通过该网络被移植到测试机上。
2. 如权利要求1所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于: 所述测试向量生成系统设有中央数据库,用以收集和处理对生成逻辑内建自测试向量有用的原数据。
3. 如权利要求2所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述逻辑内建自测试系统设有与中央数据库相连的至少一个输入界面,以供录入原数据。
4. 如权利要求3所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述输入界面为多个且对应于原数据的各个数据来源部门。
5. 如权利要求2所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述操作界面与中央数据库相连,所述测试软件服务器安装有若干不同的ATPG(Automatic Test Pattern Generation, 自动测试图样产生)测试软件,通过操作界面从中央数据库中选择对应的原数据及挑选对应的ATPG测试软件,便可以自动生成所述逻辑内建自测试向量。
6. 如权利要求1所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述操作界面为电脑。
7. 如权利要求1所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述逻辑内建自测试向量通过TCP/IP网络协议被传输到测试机。
8. 如权利要求1所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述逻辑内建自测试系统设有连接网络与测试软件服务器的第一调制解调器。
9. 如权利要求1所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述逻辑内建自测试系统设有连接网络与测试机的第二调制解调器。
10. 如权利要求1所述的逻辑内建自测试系统,其特征在于:所述逻辑内建自测试系统包括数据服务器,用以接收测试机的输出测试报告,所述逻辑内建自测试系统根据该输出测试报告自动判断是否需要进一步测试来敏化被测电路的测试故障点。
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