[发明专利]一种测试覆盖率的评估方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试覆盖率的评估方法，属于集成电路板级生产测试领域。

背景技术

随着集成电路的工艺尺寸的日益缩小和电路复杂度的不断提高，特别是片上系统(System-on-Chip, SoC)的出现和广泛应用，超大规模集成电路的集成度已经发展到一个芯片上可以集成几千万个晶体管以上的程度。所以，探索和应用低成本、高效率的测试技术和测试系统已成为芯片测试中的一个重要课题。

在线测试机测试(ICT Test)被广泛应用于电子制造企业，它的作用主要是通过夹具， 以电路板(PCB)上的测试点为接口，对安装在电路板上的电子元器件进行电器测试。在线测试机测试的优点在于速度快、覆盖全面。在线测试机测试的缺点在于测试机、夹具及测试成本过于昂贵。由于该测试机是把电路板上的物理测试点当作接口，通过专门制作的测试程序和对应夹具来生成测试激励。然而，随着电路板设计得越来越复杂，元器件越来越多，引脚越来越密，使得应用于在线测试机上的测试程序和夹具制作周期越来越长，复杂度越来越高。

因此，有必要对现有的测试覆盖率的评估方法进行改良。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种简化的、分阶段的测试覆盖率的评估方法。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种测试覆盖率的评估方法，该评估方法用以测试被测试对象的覆盖率，所述被测试对象包括元器件及对应该元器件的引脚，所述元器件包括数字器件及模拟器件，所述评估方法包括如下步骤：

步骤S1，在可测试性阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估，其中，步骤S1包括步骤S11，即，对元器件的元器件库进行分析，如果对应元器件的引脚已被赋值，那么该引脚被认为已被测试覆盖到；

步骤S2，在夹具制造阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估，其中，步骤S2包括步骤S21及步骤S22，引脚只有在步骤S21及步骤S22中均被覆盖到，那么该引脚才被认为已被测试覆盖到；

步骤S21，对元器件的元器件库进行分析，如果对应元器件的引脚已被赋值，那么该引脚初步被认为已被测试覆盖到；

步骤S22，对被测试对象的版图检测报告进行分析，如果引脚有测试点，那么该引脚初步被认为已被测试覆盖到，如果该引脚没有测试点，但是该引脚在多个边界扫描器件的连接网线上，那么该引脚初步被认为已被测试覆盖到；以及

步骤S3，在最终测试阶段，对被测试对象的覆盖率进行评估，其中，步骤S3包括：步骤S31，对对应数字器件的引脚进行测试覆盖率评估；步骤S32，对模拟器件的稳定性进行评估；以及步骤S33，对元器件的存在性进行评估。

作为本发明的进一步改进，该评估方法在步骤S1之前还包括初始值的步骤，其中，连接电源或接地的引脚为不可测的，连接5个以上并联电容的引脚也为不可测的。

作为本发明的进一步改进，被测试对象包括若干网线，步骤S2中，这些网线均可被夹具连接到。

作为本发明的进一步改进，步骤S31中，如果数字器件是边界扫描器件且被边界扫描测试覆盖到，则对应数字器件的引脚被认为已被测试覆盖到。

作为本发明的进一步改进，步骤S31中，如果数字器件是非边界扫描器件，则对应该非边界扫描器件的引脚满足固定0故障和固定1故障时，该引脚才被认为已被测试覆盖到。

作为本发明的进一步改进，步骤S32中，把多次测试的结果进行计算，得到标准差及制程能力的值，如果制程能力的值大于20，那么该模拟器件被认为是不稳定的。

作为本发明的进一步改进，所述标准差的计算公式为：

其中，X为测试值； n为测试次数。

作为本发明的进一步改进，所述制程能力的计算公式为:

其中，μ为测试平均值；USL为该器件的容忍值上限；LSL为该器件的容忍值下限。

作为本发明的进一步改进，步骤S33中，元器件的存在性覆盖率采用如下规则：

如果该元器件是电容，至少有一个电容测试或者串行电容测试覆盖到了所有引脚；

如果该元器件是连接器，至少有一个引脚被测试到；

如果该元器件是二极管，两个引脚都需要被二极管测试覆盖到；

如果该元器件是电感，两个引脚至少被一个跳线测试或者电感测试覆盖到；

如果该元器件是跳线器，两个引脚至少被一个跳线测试覆盖到；