[发明专利]非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法无效

专利信息
申请号: 201010587172.5 申请日: 2010-12-14
公开(公告)号: CN102103104A 公开(公告)日: 2011-06-22
发明(设计)人: 张亚萍;张鑫 申请(专利权)人: 天津市津能电池科技有限公司
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 王来佳
地址: 300384 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 非晶硅 太阳电池 激光 刻划 效果 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于太阳能光伏技术领域,涉及非晶硅太阳电池,尤其是一种非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法。

背景技术

太阳电池是一种半导体光电子器件,它利用“光伏效应”原理直接将太阳能转化为电能,是一种理想的洁净的可再生能源,近年来在世界范围内得到迅速发展。非晶硅太阳电池是一种薄膜电池,在实际生产工艺中需要经过激光刻划和最后金属电极形成内部的串联从而构成组件产品,三条激光刻线分别为图1中1TCO、2Si和3AL,其中第三条AL刻划线起到分割子电池的作用,使得每个子电池成为一个独立的整体,一旦刻划出现问题将直接影响到整个电池的并联电阻,从而影响到电池的开路电压和功率。恰恰该刻划线在生产中易受环境影响而存在质量问题,因此通过检测手段全面的了解,才能更好的改进、利用这一工艺,进一步提高电池的性能。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种非晶硅太阳电池激光刻划效果的检测方法。

本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:

一种非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法,检测步骤如下:

(1)将电池板平置于测试平台上,打开稳定光源;

(2)将万用表置于直流电压档,两表笔分别接在各子电池上,从一侧进行测试;

(3)记录所测电压值;

(4)再从另一侧进行测试,记录所测电压值;

(5)比较测试结果,数据明显较小的子电池可判断为激光刻划有问题。

本发明的优点和积极效果是:

1、本发明采用光照下开路电压的测试方法,仪器简单,测试结果稳定易分析,通过测试可以明确确定激光的刻划质量,为不合格电池性能的分析提供有力的证据,进而有效指导激光工艺改进方向,提高电池质量。

2、本发明对光照下开路电压的测试是在短边A、B两侧分别进行,由于激光刻划对整条子电池的影响是具有不一致性的,表现为整条子电池的开路电压值是不一样的,目前常规只从一端进行测试,有些存在问题的子电池可能被掩盖,测试数据不准确,而本方法从两端进行测量就避免了这一情况的发生,使得测试更加全面、准确。

3、本发明以一种简单有效的手段检测不合格品的激光刻划质量,在装有稳定光源的平台上测试其光照下的子电池开路电压,根据测试结果进行比较分档,从而确定有问题的子电池。由于光照达到一定程度后电池开路电压受外界影响较小,因此该测试方法简单,测试结果稳定。另外,由于激光刻划质量不好往往造成整条子电池的不一致性,因此测试需从电池板两端分别进行,这样才能真实有效的反映整条子电池的情况。

附图说明

图1为本发明的太阳电池内部串联示意图;

图2为检测平台主视图;

图3为图2的侧视图。

具体实施方式

下面通过具体实施例对本发明作进一步详述,以下实施例只是描述性的,不是限定性的,不能以此限定本发明的保护范围。

一种非晶硅太阳电池激光刻划效果检测方法,所涉及的非晶硅太阳电池的内部串联结构如图1所示,三条激光刻线分别为TCO刻划线1、Si刻划线2和AL刻划线,其中AL刻划线起到分割子电池的作用,使得每个子电池成为一个独立的整体,一旦刻划出现问题将直接影响到整个电池的并联电阻,从而影响到电池的开路电压和功率。通过本检测方法,由所测得的电压值借助于微观形貌测试来确定刻划线的效果。

下面结合图2、图3来说明一下检测方法,检测步骤如下:

(1)将电池板7平置于测试平台4上,打开稳定光源5;

(2)将万用表6置于直流电压档,两表笔分别接在各子电池8上,从A侧进行测试;

(3)记录所测电压值;

(4)再从B侧进行测试,记录所测电压值。

(5)比较同侧和异侧测试结果,数据明显较小的子电池可判断为AL激光刻划有问题,想进一步确认的话可以进行形貌测试来判断。

本检测方法采用测试光照下子电池开路电压的方法,根据测试结果进行比较分档,从而确定有问题的子电池。由于光照达到一定程度后电池开路电压受外界影响较小,因此该测试方法简单,测试结果稳定,可广泛应用于生产与科研中。

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