[发明专利]具有宽广相变化元素与小面积电极接点的存储器装置有效
申请号: | 201010589519.X | 申请日: | 2007-09-06 |
公开(公告)号: | CN102097587A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 龙翔澜 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;H01L27/24 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;韩宏 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 宽广 相变 元素 面积 电极 接点 存储器 装置 | ||
1.一种存储器装置,包括:
底部电极;
存储元素,其位于所述底部电极之上;以及
包括主体部分与作用部的顶部电极,其中所述顶部电极的所述作用部的基底,与所述存储元素的表面的一小区域电接触,其中所述顶部电极还包括内衬及由所述内衬包围的核心,所述内衬自所述作用部两侧垂直向上延伸而包围所述核心。
2.如权利要求1所述的装置,其中所述存储元件包括至少具有两种以上固态相的存储器材料。
3.如权利要求2所述的装置,其中所述至少两种以上固态相的存储器材料,可利用施加穿越所述顶部电极与底部电极的电压,可逆地改变相态。
4.如权利要求2所述的装置,其中所述至少两种以上固态相的存储器材料,包括通常的非晶相与通常的结晶相。
5.如权利要求2所述的装置,其中所述至少具有两种以上固态相的所述存储器材料,包括合金,所述合金的材料包括Ge、Sb、Te组成的组合。
6.如权利要求2所述的装置,其中所述至少具有两种以上固态相的存储器材料,包括合金,所述合金的材料包括由两种或以上Ge、Sb、Te、Se、In、Ti、Ga、Bi、Sn、Cu、Pd、Pb、Ag、S与Au等元素组成的组合。
7.如权利要求1所述的装置,其中所述电接触的所述小区域具有约为10nm至100nm的宽度范围。
8.如权利要求1所述的装置,其中所述电接触的所述小区域具有约为20nm至50nm的宽度范围。
9.如权利要求1所述的装置,其中所述电接触的所述小区域具有约为30nm的宽度。
10.如权利要求1所述的装置,其中所述顶部电极材料包括Ta、TaN、TiAIN、TaAIN等材料之一。
11.如权利要求1所述的装置,其中所述顶部电极材料包括Ti、W、Mo、Al、Ta、Cu、Pt、Ir、La、Ni与Ru等材料之一,或上述材料合金之一。
12.如权利要求1所述的装置,其中所述顶部电极材料包括陶瓷。
13.如权利要求1所述的装置,其中所述内衬包括从氮化钽、氮化钛与氮化钨所选择的合金。
14.如权利要求1所述的装置,其中所述核心包括从W、Cu、Pt、Ru、Ir与其合金所选择的材料。
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