[发明专利]测试装置的识别码的自动配置方法无效

专利信息
申请号: 201010590970.3 申请日: 2010-11-30
公开(公告)号: CN102479165A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 郑全阶;范雅静;姜骁;陈志丰 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06F13/10 分类号: G06F13/10
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;鲍俊萍
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 识别码 自动 配置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试装置的识别码的自动配置方法,尤其涉及一种不需要加装额外的电子可抹除可规划只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)或是硬件配置电路之测试装置的识别码的自动配置方法。

背景技术

测试工作一直在产品的生产过程中占了一个很重要的角色。由于在生产过程中,很有可能因为一些不特定因素导致生产出有瑕疵的产品,因此生产完成的产品均需要经过测试方得以出货或上市。若没有经过品管人员的测试,具有瑕疵的产品最终会在瑕疵仍未被察觉的情况下被运送至市面上去贩卖。当使用者购买到这些有问题的产品时,不仅会造成使用者的不便,对生产公司的形象也会大打折扣。

但是在测试过程中,可能会因为各式各样的问题使得测试的效率不彰、成本过高,甚至是容易出错。例如要测试一待测单元(unit under test,UUT)的多个总线接口时,需要在同一个总线上的各个接口挂接相同功能的测试装置;但是要如何区别这些相同的测试装置是一个很大的问题。测试时需要能够个别存取任何一个测试装置;且在测试失败时,需要能够简单确实地得知出错的是哪一个。

为了访问每个测试装置,每个测试装置都需要具有独一无二的被访问地址(也就是识别码)。通常的做法有以下两种。第一种方法是在测试装置上外加外部配置电阻、跳线开关(jumper)或是指拨开关(bender),并以人工改变外部硬件脚位元高低组合的方式指定每一个测试装置的识别码。但这种方法不但会增加布线(layout)所占的空间,也会增加外加硬件的硬件成本。此外,在进行识别码的配置时的复杂度更是一大问题。配置的工作人员需要手动的设定每一个测试装置的识别码,极容易出错;且随着测试装置的增加,复查度更是大幅提升。且这种方法受限于外部硬件配置环境,不能任意增加测试设备的数量。

另一种方法是额外地在测试装置中增加一个电子可抹除可规划只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)等储存组件以事先将不同的识别码写入测试装置。但是这种方法对于不同的测试项目可能需要维护很多不同的配置档案(file image),且导致增加了维护成本和降低了使用方便性。须外加于测试设备的EEPROM或增加硬件成本不用说,此种方法所需的提供对EEPROM编程的设备也会增加成本。

因此现有对于多个测试装置配置识别码的方法具有需要额外的硬件成本、配置复杂度高且容易出错,以及维护不易等问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提出一种测试装置的识别码的自动配置方法,以克服上述现有技术的问题。

本发明中测试装置的识别码的自动配置方法包括:将多个测试装置连接于一序列总线(serial bus,串行总线),其中每一个测试装置包括一识别缓存器(identification register,ID register,寄存器);检测与序列总线连接的第一个测试装置并作为一工作装置;写入工作装置的一识别码于工作装置的识别缓存器;逻辑连接工作装置与序列总线的下游;检测序列总线的下游是否存在对应于工作装置的一次级装置(next device);以及当次级装置存在时,将次级装置作为新的工作装置,并重复以上步骤直到将所有的测试装置写入对应的识别码为止。

根据一实施范例,其中次级装置为在工作装置之后与序列总线连接的第一个测试装置。

该“逻辑连接工作装置与序列总线的下游”的步骤可包括:将工作装置的一开关缓存器的值设为关闭(close),以逻辑连接工作装置的次级装置与序列总线。

其中识别缓存器或是开关缓存器可配置于每一个测试装置内建的一复杂可程序逻辑组件(Complex programmable logic device,CPLD)之中。

根据另一实施范例,在“写入工作装置的一识别码于工作装置的识别缓存器”的步骤之前,测试装置的识别码的自动配置方法另可包括:启动电源并初始化所有测试装置。

其中识别缓存器的初始值可以是0,而开关缓存器的初始值可以是开启(open)。

此外,每一个测试装置的CPLD可包括一次级装置缓存器,用以表示在序列总线的下游是否存在对应于测试装置的次级装置。

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