[发明专利]基于NTN校准与K-K变换的采样示波器精细相位响应重构方法

权利要求书

1.一种基于NTN校准与K-K变换的采样示波器精细相位响应重构方法，其特征在于：它包括以下步骤：

步骤一：在理论上对示波器的幅度响应函数h(f)进行Kramers-Krong变换，得到理论上示波器的相位响应函数φ(f)；

步骤二：将工程实际中带有截断误差的示波器的幅度响应函数经过Kramers-Krong变换得到工程实际中示波器的相位响应函数φ_Ω(f)；

步骤三：由步骤一和步骤二获得工程实际中截断之后的相位误差函数Δ(f)；

步骤四：对相位误差函数Δ(f)做近似展开，并对展开后获得的基函数进行正交化；

步骤五：根据由NTN校准法得到的相位与φ_Ω(f)对应频率点上的相位的差值计算，获得所述正交化的基函数的系数值，结合采样值对工程实际中示波器的相位响应函数φ_Ω(f)进行修正，得到工程实际中采样示波器的精细相位响应函数。

2.根据权利要求1所述的基于NTN校准与K-K变换的采样示波器精细相位响应重构方法，其特征在于：

所述步骤一中理论上示波器的相位响应函数φ(f)的表达式为：

φ(f)=2fπ∫π∞1f2-s2ln(|h~(s)|)ds;]]>

式中f表示频率；

所述步骤二中工程实际中示波器的相位响应函数φ_Ω(f)的表达式为：

φΩ(f)=2fπ∫0Ω1f2-s2ln(|h~(s)|)ds;]]>

所述步骤三中工程实际中截断之后的相位误差函数Δ(f)的表达式为：

Δ(f)=φ(f)-φΩ(f)=2πf∫Ω∞1f2-s2ln(|h(s)|)ds,]]>

式中Ω为工程实际中采用扫频测量法及NTN校准法达到的最大频率值。