[发明专利]逆反射材料反射比测量装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及反射比测量技术领域，特别涉及一种逆反射材料反射比测量装置及方法。

背景技术

目前公知的材料反射测量仪器主要分为两类，一类可以测量材料镜面反射比，一类可以测量材料的漫反射比。尚未有能测量逆反射材料反射比的仪器出现。若利用已有的两类仪器测量逆反射材料反射比，则会由于反射光的逆向返回，使得探测器无法收集到反射光，导致测量结果发生错误，产生较大误差，无法保证测量值的准确性。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何提供一种测量逆反射材料反射比的装置及方法，且保证测量值的准确性。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种逆反射材料反射比测量装置，包括：依次连接的测量模块、存储模块和计算模块，

所述测量模块，用于测量预设信号数据和待测信号数据，并将所述预设信号数据和待测信号数据发送至所述存储模块进行存储，所述预设信号数据为以已知反射比的材料为测量对象时，测量到的信号数据，所述待测信号数据为以待测逆反射材料为测量对象时，测量到的信号数据；

所述存储模块，用于存储所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据；

所述计算模块，用于根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。

其中，所述测量装置，还用于测量背景信号数据，并将所述背景信号数据发送至所述存储模块进行存储，所述背景信号数据为以测量模块本身为测量对象时，测量到的信号数据；

所述存储模块，还用于存储所述背景信号数据；

所述计算模块，还用于根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述背景信号数据、预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。

其中，所述测量模块包括：积分球、探测器和光源，所述积分球的一条直径两端分别设有探测器口、样品口，所述积分球还设有入射光口，所述光源设于所述入射光口处，所述探测器设于所述探测器口处，所述探测器与所述存储模块相连。

其中，所述入射光口设于所述积分球上一条直径的一端，所述入射光口所在直径与所述探测器口和样品口所在直径垂直。

本发明还公开了一种基于所述的逆反射材料反射比测量装置的测量方法，包括以下步骤：

S1：以已知反射比的材料为测量对象，测量预设信号数据，并存储于所述存储模块；

S2：以待测逆反射材料为测量对象，测量待测信号数据，并存储于所述存储模块；

S3：根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。

其中，步骤S3中，根据下列公式，计算待测逆反射材料的反射比，

Z=X*MR]]>

其中，Z为待测逆反射材料的反射比，M为所述已知反射比的材料的反射比，X为待测信号数据，R为预设信号数据。

其中，在步骤S1之前包括步骤：

S11：以测量模块本身为测量对象，测量背景信号数据，并存储于存储模块；

步骤S3中根据下列公式，计算待测逆反射材料的反射比，

Z=(X-B)*MR-B]]>

其中，Z为待测逆反射材料的反射比，M为所述已知反射比的材料的反射比，B为背景信号数据，X为待测信号数据，R为预设信号数据。

其中，步骤S11中，对积分球的入射光口进行遮挡，并将已知反射比的材料或待测逆反射材料放置于积分球的样品口。

其中，在步骤S1中，将已知反射比的材料置于积分球的样品口。

其中，在步骤S2中，将待测逆反射材料置于积分球的样品口。

(三)有益效果