[发明专利]一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法有效
| 申请号： | 201010594927.4 | 申请日： | 2010-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN102023631A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 甘大方;郑召北;吕春兰 | 申请（专利权）人： | 北京布莱迪仪器仪表有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/00 | 分类号： | G05B23/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 100164 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 检验 sf sub 密度 控制器 温度 补偿 准确性 方法 | ||
1.一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法，其特征在于，包括：
放置所述SF6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间；
连接所述SF6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；
调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力；
确定所述SF6密度控制器的显示压力；
判断所述SF6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则所述SF6密度控制器的温度补偿准确，否则所述SF6密度控制器的温度补偿不准确。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括确定与所述预设检验温度对应的器内压力的步骤，具体的，依据以下公式确定与所述预设检验温度对应的器内压力：
P器＝P额+K×Δt
其中，P器为充有SF6气体的容器的器内压力，P额为SF6密度控制器的额定压力，K为与P额对应的温度补偿系数，Δt为预设检验温度与20℃之间的差值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述K的取值为：
P额为0.3MPa时，所述K为0.0015MPa/℃；
P额为0.4MPa时，所述K为0.002MPa/℃；
P额为0.5MPa时，所述K为0.0025MPa/℃；
P额为0.6MPa时，所述K为0.003MPa/℃。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括记录所述SF6密度控制器的显示压力的步骤。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设检验温度为-40℃～70℃中的任一数值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准压力检测装置为标准压力表。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准压力检测装置为储气瓶。
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