[发明专利]单片光伏电池芯片的检测方法无效
| 申请号： | 201010599855.2 | 申请日： | 2010-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN102565065A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 倪夜光 | 申请（专利权）人： | 上海山晟太阳能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201300 上海市浦东新区沪*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 单片 电池 芯片 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.单片光伏电池芯片的检测方法，包括设定工作温度为25℃，湿度为60％的工作环境，配置单相电源220V，10A在内；其特征在于：其检测方法，调整单片光伏电池芯片的输入电流，曝光时间，存储路径，序列号，观察显示器上显示的单片光伏电池芯片图像，按性能分档的测试过程。
2.根据权利要求1所述的单片光伏电池芯片的检测方法，其特征在于：所述的输入电流在1A～10A范围内。
3.根据权利要求1所述的单片光伏电池芯片的检测方法，其特征在于：所述的曝光时间在0.1s～25s范围内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海山晟太阳能科技有限公司，未经上海山晟太阳能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010599855.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：mSATA接口测试卡及测试系统
- 下一篇：一种防爆排气系统
