[发明专利]织机综框动态位移测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种综框运动状态测量装置，尤其涉及测量综框在最高位置和最低位置时振动所产生动态位移的测量装置。

  

背景技术

我们知道，在开口机构中，综框在最低位置与最高位置之间作往复运动，综框在最低和最高位置都有一段静止阶段。理论设计的静止阶段位移曲线对应于一条直线，位移量不变化。但是，实际上，在最高位置与最低位置时，还存在一定振动，这种在升程或降程结束后的振动称为综框的残余振动。振动所产生的位移我们称为总控的动态位移。   

综框的动态位移与织机的运行速度有关，运行速度稍作变动，综框的动态位移就可以大大减少。测量综框动态位移状态曲线很重要，曲线反映了设计位移与实际动态位移的差别，需要分析动态位移的成因和特点。

由于综框的动程较长，现有的位移传感器都利用电阻的变化测量行程，该种测量方式，一方面要求位移传感器较长，不易实现；另一方面，位移传感器在使用过程中存在较大的接触磨损，使用寿命不长，因此，需要一种更适合测量综框动态位移的装置。

  

发明内容

本发明目的是提供一种在线探测综框动态位移且使用寿命较长的测量装置。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：一种织机综框动态位移测量装置，它包括与织机综框右侧档相固定连接且中心线与水平面相垂直的芯轴、设置在织机综框导架上的光电传感器，所述的光电传感器包括固定在综框导架上的传感本体、设置在传感本体内的发光管与光电池，所述的传感本体上开设有用于芯轴上下穿梭的中间孔、与中间孔相连通且向传感本体左右两侧延伸的侧孔，所述的发光管与光电池相面对地安装在两侧孔末端的传感本体上，所述的发光管、侧孔、中间孔、与光电池之间形成光线通道，当综框发生振动，带动所述的芯轴产生同步位移，所述的光电池接收的光通量发生改变，根据光电池输出信号的大小以测得综框的位移量。

进一步地，所述的芯轴粘贴在右侧档上，且其上端部高于综框的上横梁。所述的传感本体位于芯轴的正上方。

所述的芯轴上沿其高度方向上下开设有两透光孔，所述的透光孔的位置与综框在往复运动过程中的最高位置和最低位置相一致，且所述的透光孔的开口高度与传感本体的高度相同。所述的传感本体的高度25～35毫米。

所述的光电传感器还包括设置在靠近所述发光管所在侧的侧孔内的透镜。

所述的芯轴横截面呈圆形，且横截面直径为3～4毫米。或者所述的芯轴横截面呈矩形，矩形截面的长为3～4毫米、宽为2～3毫米。

由于采用上述技术方案，本发明具有以下优点：本发明测量装置采用固定设置在综框上的芯轴在光电传感器中运动，芯轴的运动将影响光电池的接收光线，使得其光通量改变，从而光电传感器的输出发生变化，通过采集并处理该变化量，即可得到综框的动态位移。由于芯轴与传感器不是直接设置在综框上，故综框的运动不会对其产生磨损，从而保证了该测量装置的使用寿命和测量的精确性，本发明为喷气织机提供了一种在线测量综框动态位移状态的方式，通过在线测量，得到综框真实的运行状态，为高速织机的机构设计提供数据。

  

附图说明

附图1为本发明测量装置与综框连接结构示意图；

附图2为本发明光电传感器结构图；

附图3为附图1中A-A方向剖视图；

附图4为本发明所实施的芯轴纵向剖视图；

其中：1、芯轴；11、透光孔；2、传感器；21、传感本体；211、中间孔；212、侧孔；22、发光管；23、光电池；24、透镜；

10、上横梁；20、下横梁；30、左侧档；40、右侧档；50、综框导架。

  

具体实施方式

下面结合附图，对本发明优选的具体实施例进行说明：

图1所示的织机综框，其包括相平行设置的上横梁10、下横梁20、与上横梁10和下横梁20左右两侧相连接形成框体的左侧档30、右侧档40以及用于支撑整个综框的综框导架50，在织造过程中，综框在最低位置与最高位置之间作往复运动，当综框在最高位置或最低位置时，会有一段静止阶段，但是在该阶段，综框还会存在振动，从而会产生一定的动态位移。本发明测量装置主要用于测量该阶段的动态位移情况。

本发明综框动态位移测量装置主要包括芯轴1、光电传感器2，如图1所示，芯轴1固定粘贴在右侧档40的外侧面，光电传感器2位于芯轴1的正上方，芯轴1可在光电传感器1内上下穿梭运动。