[发明专利]一种超低损耗腔镜的镀膜工艺无效

专利信息
申请号: 201010601207.6 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN102115873A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 吴先云 申请(专利权)人: 福建福晶科技股份有限公司
主分类号: C23C14/46 分类号: C23C14/46;C23C14/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 损耗 镀膜 工艺
【说明书】:

【技术领域】

发明涉及光学镀膜领域,尤其是一种超低损耗腔镜的镀膜工艺。

【技术背景】

离子束辅助沉积镀膜简称为IAD方式镀膜它是在热蒸发镀膜的同时,用离子束轰击,用这种方法比单纯热蒸发镀制的光学薄膜效果好。热蒸发镀膜技术的优点是:设备简单,很多介质材料都可用热蒸发技术镀膜。但所镀的薄膜有结构松驰、性能不稳定、寿命短、牢固度差等缺点。其原因从微观结构分析,是因热蒸发镀制的膜层呈柱状结构,在柱状间隙中,潮气的吸附和渗透造成上述缺陷。为了克服离子束辅助沉积方式的缺点,本发明采用使用双离子束溅射方式,镀前使用超声波清洗,离子束预清洗工艺,得到的薄膜非常致密、粗糙度极低,低温漂,低透射损耗和低散射损耗的薄膜;适当的退火方式后处理方式,能大幅度降低吸收损耗,从而得到超低损耗的薄膜(总损耗(含透射损耗、散射损耗、吸收损耗)<20ppm),从而提高激光腔镜的反射率。

【发明内容】

本发明使用DIBS双离子束溅射方式,镀前使用超声波清洗,离子束预清洗,得到的薄膜非常致密、粗糙度极低,低温漂,低透射损耗和低散射损耗的薄膜;镀后采用适当的退火方式后处理。

【具体实施方式】

实施例一:

采用双离子束溅射方式,镀膜前使用超声波清洗,离子束预清洗,镀膜后采用退火处理,得到超低损耗的薄膜,总损耗(含透射损耗、散射损耗、吸收损耗)<20ppm。

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