[发明专利]燃烧器系统中的杂质检测有效
申请号: | 201010601870.6 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN102095198A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | P·M·桑维克;R·D·斯拉特斯;A·V·维尔特;S·阿尔加巴里 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | F23D11/00 | 分类号: | F23D11/00;G01N21/71 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱铁宏;谭祐祥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 燃烧 系统 中的 杂质 检测 | ||
1.一种燃烧器系统(10),包括:
上游燃料喷射点(18);
下游涡轮燃烧器(20);
火焰区(22),其位于所述涡轮燃烧器(20)中包括多个轴向子区(32,34,36,38);
光学端口组件(24),其构造成用以实现对所述多个轴向子区(32,34,36,38)中的至少一个进行非轴向的、直接的光学观察;以及
与所述光学端口组件(24)构成光学通信的杂质检测系统(26)。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述光学端口组件(24)包括多个光学端口(42,44,46,48)。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述多个光学端口(42,44,46,48)构造成用以实现对所述多个轴向子区(32,34,36,38)中的至少两个进行直接观察。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述杂质检测系统(26)构造成用以检测杂质种类,所述杂质种类包括选自由钠、钾、钙、锂、镁、铅和钒所构成的组中的至少一种元素。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述杂质检测系统(26)构造成用以检测杂质种类,所述杂质种类包括选自由钠、钾、钙、锂、镁、铅和钒所构成的组中的元素的至少一种氧化物。
6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括设置成用以升高所述火焰区(22)的温度的激发器组件。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,所述激发器组件包括构造成用以产生等离子体(66)放电的电极组件(60)。
8.一种燃烧器系统(10),包括:
上游燃料喷射点(18);
下游涡轮燃烧器(20);
火焰区(22),其位于所述涡轮燃烧器(20)中包括多个轴向子区(32,34,36,38);
设置在燃烧器系统(10)附近用以在操作期间激发火焰(28)的电极组件(60);
光学端口组件(24),其构造成用以实现对所述多个轴向子区(32,34,36,38)中的至少两个进行直接的光学观察;以及
与所述光学端口组件(24)构成光学通信的杂质检测系统(26)。
9.一种燃烧器系统(10),包括:
燃料管线(70);
滑流燃料管线(72);
所述燃料管线(70)上的上游燃料喷射点(18);
所述燃料管线(70)上的下游涡轮燃烧器(20),以及
感应耦合等离子体(ICP)分析器(74),其设置在所述滑流燃料管线(72)上用于分析传递至所述涡轮燃烧器(20)的燃料中的杂质。
10.一种分析和测量燃烧器系统(10)中的特定杂质的方法,包括:
将液体燃料喷射到所述燃烧器系统(10)的火焰区(22)中;
在所述燃烧器系统(10)的火焰区(22)中产生火焰(28);
通过提供外部激发来升高所述火焰(28)的温度;
将来自于所述火焰区(22)的多个轴向子区(32,34,36,38)的所述火焰(28)的直接发射信号经由光学端口组件(24)耦合至检测器系统,以及
分析来自于所述多个轴向子区(32,34,36,38)的所述发射信号,以便检测存在于所述液体燃料中的杂质种类。
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