[发明专利]一种研究氧化锌纳米材料原位生长过程的方法无效

专利信息
申请号: 201010602583.7 申请日: 2010-12-23
公开(公告)号: CN102120604A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 黄在银;王路得;郭云霄;王腾辉 申请(专利权)人: 广西民族大学
主分类号: C01G9/02 分类号: C01G9/02;B82Y40/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 530006 广西壮族自治区*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 研究 氧化锌 纳米 材料 原位 生长 过程 方法
【说明书】:

技术领域:

发明涉及一种无机功能纳米材料原位生长过程的研究,特别涉及一种采用高精度、高灵敏度的RD496-2000微热量计研究绿色法合成氧化锌的原位生长过程的方法。

背景技术

氧化锌(ZnO)是一种重要的宽禁带半导体材料,带宽可达3.37eV,有很大的激子束缚能(60meV),具有优良的化学性质和热稳定性及良好的发光、光电转换等性能,使得其在众多领域有着广泛的潜在应用,例如可以用于发光材料、光电转换材料、涂料及日用化工材料,可以用来制造风光电极、变压器和多种光学装置。同时ZnO还是一种生物安全和生物相溶性良好的材料,可以用于生物医药的载体或生物传感器等。纳米材料由于具有量子尺寸和宏观量子隧道效应等而显示特殊的光、电、磁和催化性能,引起了人们极大的兴趣,其制备和性能的研究已经成为当前材料科学中十分活跃的领域,而材料的性能与粒子的大小和形貌密切相关。有关ZnO纳米材料的合成已有很多报道,包括物理溅射沉积法、化学气相沉积法、电化学合成法、热蒸发、金属有机气相外延(MOVPE)技术,激光法,微乳液法、溶剂热合成、水热合成与模板合成法等,合成出了ZnO的纳米线、纳米棒、纳米带、纳米管、纳米环、纳米弓、纳米花、纳米片等等。

目前,研究纳米材料的生长过程主要有以下几种方法:(1)用经典的结晶动力学理论来研究纳米材料生长[Sugimoto T,Kimijima K.Journal of Physical Chemistry B.2003;107;10753-9],即在一定条件下对所合成的纳米材料进行终态(或中间态)检测,表征形态、结构、组成和物性,由检测结果进行分析,探索可控合成的生长条件,研究生长机理和生长动力学[郭敏,刁鹏,王新东,蔡生民.北京科技大学学报.2007;7;735-8+749];(2)用电镜原位研究纳米材料生长过程[a)Zhang XZ,Zhang JM,Chen L,Xu J,You LP,Yu DP.AppliedPhyscis A:Materials Science & Processing.2008;92;669-672.b)Stach FA,Pauzuskie PJ,Kuykendall T,Goldberger J,He RR,Yang PD.Nano Letters.2003;3;867-9.c)Radisic A,VereeckenPM,Hannon JB,Searson PC,Rss FM.Nano Letters.2006;6;238-42.d)Chou YC,Wu WW,ChengSL,Yoo B-Y,Myung N,Chen LJ,Tu KN.Nano Letters.2008;8;2194-9.];(3)用扫描隧道显微镜实时观测纳米材料生长[a)Skutnik PD,Sgarlata A,Nufris S,Motta N,Balzarotti A.PhysicalReview B.2004;69;201309.b)Zell CA,Freyland W.Langmuir.2003;19;7445-50.];(4)用椭圆偏振诊断技术对纳米材料的生长动力学、性质进行在线监测[Logothetidis S,Gioti M,Patsalas P.Diamond and Related Materials.2001;10;117-24.];(5)用同位加速器X射线吸收原位观测纳米结构成核以及生长过程[Lngham B,Llly BN,Ryan MP.Journal of Physical Chemistry C.2008;112;2820-4.];(6)用紫外光谱(UV)吸收对纳米簇生长过程进行实时在线动力学研究[Mercado L,Castro W,Vicuüa E,Briano JG,Ishikawa Y,Irizarry R,SoláL,Castro ME.International Conference on Computational Nanoscience and Nanotechnology-ICCN.2002;439-42.];(6)用石英晶体微天平结合原位X射线光电子能谱对纳米结构的生长速率进行在线监测[Chelly R,Werckmann J,Angot T,Louis P,Bolmont D,Koulmann JJ.Thin SolidFilms.1997;294;84-7.]。

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