[发明专利]一种肖特基二极管的正面电极结构及其工艺制造方法无效
申请号: | 201010606131.6 | 申请日: | 2010-12-20 |
公开(公告)号: | CN102142465A | 公开(公告)日: | 2011-08-03 |
发明(设计)人: | 吴志伟;梁勇;王平;何金祥 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/43;H01L21/28;H01L21/329;C23C14/30;C23C14/14 |
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地址: | 310018 浙江省杭州市(*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 肖特基 二极管 正面 电极 结构 及其 工艺 制造 方法 | ||
1.一种肖特基二极管的正面电极工艺制造方法,其特征在于,所述的方法包括如下步骤:
步骤1:外延,在重掺杂硅衬底上淀积一定厚度的轻掺硅外延层;
步骤2:氧化,对硅片进行一次氧化,在硅外延层表面生成一层二氧化硅膜以起到掩蔽及钝化保护作用;
步骤3:一次光刻,对硅片进行一次光刻,在二氧化硅表面形成保护环窗口图形;
步骤4:二氧化硅腐蚀,对硅片进行二氧化硅腐蚀,形成保护环窗口,要求窗口区二氧化硅厚度小于100埃;
步骤5:硼注入,对硅片进行硼注入,对窗口区域进行硼元素掺杂;
步骤6:退火,对硅片进行高温处理,一般在1000℃以上,以达到对杂质扩散、激活的目的;
步骤7:二次光刻,对硅片进行二次光刻,在二氧化硅表面形成接触区窗口图形;
步骤8:二氧化硅腐蚀,对硅片进行二氧化硅腐蚀,形成接触区窗口,要求窗口区二氧化硅厚度小于100埃;
步骤9:势垒淀积,用真空蒸发或溅射的方法在硅片表面淀积一层势垒金属;
步骤10:势垒合金,对硅片进行低温处理,在一定温度下使势垒金属与硅形成金属硅化物;
步骤11:势垒腐蚀,用势垒金属腐蚀液对硅片进行腐蚀,去除没有形成合金的势垒金属;
步骤12:清洗,采用3#液、HF酸的常规清洗方法,对肖特基二极管芯片进行真空蒸发镀膜前清洗,确保蒸发前芯片表面的清洁;
步骤13:正面电极蒸发,依次真空蒸发接触层金属Ti(钛)或V(钒)、过渡层金属Ni(镍)、阻挡层金属Al(铝)、过渡层金属Ni(镍)、导电层金属Ag(银);
步骤14:三次光刻,对硅片进行三次光刻,在五层金属层表面形成电极窗口图形;
步骤15:电极腐蚀,使用银腐蚀液、铝腐蚀液、HF酸(含Ti结构)对硅片进行电极腐蚀,依次腐蚀电极金属Ag、Ni、Al、Ni、Ti或V,以形成正面电极结构;
步骤16:去胶,将硅片置于去胶液中一定时间,以达到将电极表面的光刻胶去除干净的效果;
步骤17:减薄,采用机械研磨的方法对硅片背面进行研磨,以达到减薄硅片的效果,减薄厚度由封装工艺而定;
步骤18:背面电极蒸发,真空蒸发背面电极金属。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤13进一步包括:在低于2E-6托的高真空腔体内,采用电子束蒸发工艺,依次蒸镀接触层金属Ti的厚度为或V的厚度为过渡层金属Ni的厚度为阻挡层金属Al的厚度为过渡层金属Ni的厚度为导电层金属Ag的厚度为
3.一种肖特基二极管的正面电极结构,其特征在于,在原三层金属结构Ti(钛)-Ni(镍)-Ag(银)或V(钒)-Ni(镍)-Ag(银)中增加了对改善起主要作用的阻挡层金属Al(铝)及起连接作用的过渡层金属Ni(镍),形成了本发明结构Ti/Ni/Al/Ni/Ag或V/Ni/Al/Ni/Ag,以通过Al层对应力的阻挡作用来减轻应力对器件硅表面的损伤,提高焊接拉力和产品的抗ESD能力。
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