[发明专利]电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量的方法

权利要求书

1.电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量的方法，其特征在于：仪器参数的选择：IRIS型ICP全谱直读光谱仪，仪器测定条件：长波25s，短波5s；样品冲洗时间30s；高频输出工功率1150W；雾化压力20Psi，辅助气流量0.5L/min，泵速100rpm，雾化器位置 7mm。

2.电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量的方法，其特征在于：电感耦合等离子体发射光光谱法测定铜中铅含量按下述步骤进行：

第一步、盐酸与过氧化氢溶解铜试样：称取0.5-1克（准确至0.0001克）样品于250mL的烧杯中，加盐酸10mL摇匀并充分湿润，静置几分钟后，小心滴加过氧化氢约5mL轻轻摇动，待样品溶解后，置于电加热板上加热赶尽过量的过氧化氢；冷却后用去离子水小心淋洗表面皿及烧杯器壁，过滤转移到100mL的容量中，用4%的HCl洗涤至无铜离子并定容，待用；  

第二步、标准系列溶液配制；

第三步、仪器参数的选择：IRIS型ICP全谱直读光谱仪，仪器测定条件：长波25s，短波5s；样品冲洗时间30s；高频输出工功率1150W；雾化压力20Psi，辅助气流量0.5L/min，泵速100rpm，雾化器位置 7mm；

第四步、铜、铅元素谱线的选择：选用220.353nm谱线测定铅含量；

第五步、铜干扰铅的校正系数的确定并将系数输入仪器操作软件：在上述仪器条件及指定的元素谱线条件下，测定与样品铜含量相当的不同浓度的纯铜标准样品，再按下面公式进行计算干扰系数  fPb = 铜贡献给铅的浓度/测定的铜浓度；

第六步、在建立的分析方法下输入样品量及最终稀释体积，直接测定样品，得到分析结果。