[发明专利]一种小型光电编码器高低温精度检测装置

说明书

技术领域

本发明属于光电测量技术领域中涉及的一种光电编码器高低温精度检测设备。

背景技术

光电编码器是测量角位移的具有代表性的光电位移传感器，被广泛应用在国防、工业和科技领域中，光电编码器的精度是其重要技术指标之一。一般情况下，光电编码器技术指标中的精度是指常温条件下的精度，光电编码器出厂前通常只能对其常温环境下的精度进行检测。但在空间技术的环境中，星载的光电跟踪、观测、瞄准设备上，要求光电编码器在高低温环境下保证测量精度，因此要对高低温环境下光电编码器的精度进行测量。本发明提出一种小型光电编码器高低温精度检测装置。

与本发明最为接近的已有技术是中国科学院长春光学精密机械与理研究所研制开发的ZT-2转台，如图1所示，主要包括：平台1、固定支架2、基准编码器3、被检小型光电编码器4、联轴节5、被检小型光电编码器显示箱6、微调杆7、基准编码器显示箱8。

ZT-2转台可实现小型光电编码器常温环境下的精度检测。基准编码器3是一台精度为2″的23位绝对式光电编码器，作为角度基准，安装在平台1上。被检小型光电编码器4为精度6″以下的小型光电编码器，安装在固定支架2上。基准编码器3的主轴与被检小型光电编码器4的主轴通过联轴节5相连接。微调杆7固定在基准编码器3的主轴上。基准编码器的角度值由基准编码器显示箱8显示，被检小型光电编码器的角度值由被检小型光电编码器显示箱6显示。

转动微调杆7，使基准编码器3停留在检测位置上，记录该位置被检编码器的角度值。采用比较法，将被检编码器与基准编码器相同位置的角度值进行比较，求出两者的差值，即为该角度的误差x_i。全周0°～360°范围每隔30°测1个点，共测13个点，按(1)式求出标准偏差σ。(1)式中n为检测点个数。

σ=Σi=1n(xi-1nΣi=1nxi)2n-1---(1)]]>

ZT-2转台只能完成常温环境下光电编码器的精度检测，不能进行高低温环境下的精度检测。

发明内容

为了克服已有技术存在的缺陷，本发明的目的在于在高低温环境下能对光电编码器的精度进行检测，特设计一种小型光电编码器高低温精度检测装置。

本发明要解决的技术问题是：提供一种小型光电编码器高低温精度检测装置。解决技术问题的技术方案如图2所示，包括：基准编码器外壳9、基准编码器10、基准编码器主轴11、连接板12、回转轴隔热垫13、回转轴14、基准编码器显示箱15、基准编码器支架16、被检小型光电编码器显示箱17、平台18、固定支架隔热垫19、高低温试验箱测试孔20、筒形固定支架21、密封盖22、联轴节23、被检小型光电编码器24、被检小型光电编码器主轴25、高低温试验箱26。