[发明专利]一种用于闪存存储器的擦除方法无效

专利信息
申请号: 201010609012.6 申请日: 2010-12-28
公开(公告)号: CN102543194A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 楼冰泳;肖磊;廖少武 申请(专利权)人: 上海复旦微电子股份有限公司
主分类号: G11C16/14 分类号: G11C16/14
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张妍
地址: 200433 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 闪存 存储器 擦除 方法
【权利要求书】:

1.一种用于闪存存储器的擦除方法,其特征在于,包含以下步骤:

步骤1、预编程校验,若有单元处于擦除状态,对该单元进行预编程;

步骤2、将擦除标志位清零;

步骤3、内部进行擦除校验,若校验失败,则跳转到步骤4,若校验通过,则跳转到步骤5;

步骤4、对处于欠擦除状态的扇区或区块进行擦除操作,将擦除标志位置1,跳转到步骤3;

步骤5、将过擦除标志位清零;

步骤6、判断擦除标志位是否为零,若是,则跳转到步骤10,若否,则跳转到步骤7;

步骤7、内部进行过擦除校验,若校验失败,则跳转到步骤8,若校验通过,则跳转到步骤9;

步骤8、对存在过擦除的单元进行过擦除纠正,将过擦除标志位置1,跳转到步骤7;

步骤9、环路计数器加1;

步骤10、判断过擦除标志位是否为1,若是,则跳转到步骤11,若否,则擦除成功;

步骤11、判断环路计数器的数值是否小于N,若是,则跳转到步骤2,若否,则跳出,擦除失败。

2.如权利要求1所述的用于闪存存储器的擦除方法,其特征在于,所述的步骤11中,N为预设的环路循环的次数。

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