[发明专利]一种电容式触控检测电路、检测装置及其检测方法有效
申请号: | 201010610365.8 | 申请日: | 2010-12-29 |
公开(公告)号: | CN102541367A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 张杰;丁龙;黄臣;杨云 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电容 式触控 检测 电路 装置 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种触控检测技术领域,尤其涉及一种电容式触控检测电路、检测装置及其检测方法。
背景技术
现有电容式触控装置检测方法,有基于自电容检测和互电容检测两种基本方案,两种基本方案都是通过检测有导体(如人的手指)靠近容性触摸装置所引起的微小电容变化来实现识别操作的。而一般情况下,由导体靠近装置所引起的电容变化量远小于装置所具有的被测电容的大小,这些被测电容包括屏幕自身所具有的自电容,屏幕寄生电容。由于被测电容的存在,限制了检测电路的有效检测范围,从而限制了对微小电容变化检测灵敏度的提高。
被测电容对有效检测范围的限制可以解释为,由于导体(如人的手指)靠近容性触摸装置所引起的微小电容变化量一般远小于装置所具有的被测电容,即使这个变化量大到装置所具有的被测电容30%,那么,在充分利用的情况下,现有方案也会有70%的输出被被测电容所消耗掉,所以检测电路的灵敏度成为需要解决的问题。
发明内容
本发明解决的技术问题是现有技术中导体靠近容性触摸装置时,电容变化量较被测电容变化较小,检测灵敏度较低的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:
一种电容式触控检测电路,用于检测被测电容的变化量,包括:恒压源,用于给被测电容充电;第一开关,用于控制被测电容的充电时间;补偿模块,用于将被测电容的电量降低一预定电量;放大模块,用于将降低了电量的被测电容电压放大。
本发明还提供一种电容式触控检测装置,包括:被测电容;恒压源,用于给被测电容充电;第一开关,用于控制被测电容的充电时间,恒压源、第一开关、被测电容串联;第一控制电路,用于控制所述第一开关的导通和断开的时间;补偿模块,用于将被测电容的电量降低一预定电量;放大模块,用于将降低了电量的被测电容电压放大。
本发明还提供另一种电容式触控检测方法,包括以下步骤:步骤一:利用恒压源给被测电容充电,被测电容的充电时间为第一控制电路控制第一开关的导通时间;步骤二:第一开关断开后,利用补偿电路将被测电容的电量降低一预定电量;步骤三:利用放大模块将降低了电量的被测电容电压放大输出。
与现有技术相比本发明具有如下有益效果:本发明实施例提供的电容式触控检测电路、检测装置及其检测方法,通过补偿模块将被测电容的电量降低一预定电量后,再通过放大模块进行放大,由于被测电容的电量降低,进而其上的电压降低,使得被测电容上的电容变化量相对于没有补偿模块时的电容变化量增大,进而检测电路提高灵敏度。
附图说明
图1是本发明实施例电容式触控检测电路原理框图。
图2是本发明实施例电容式触控检测电路原理图。
具体实施方式
为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
图1是本发明实施例电容式触控检测电路原理框图;一种电容式触控检测电路,用于检测被测电容的变化量,包括:恒压源VTX,用于给被测电容充电;第一开关S1,用于控制被测电容的充电时间,恒压源VTX、第一开关S1、被测电容依次串联;第一控制电路20,用于控制所述第一开关的导通和断开的时间;补偿模块10,用于将被测电容的电量降低一预定电量;放大模块11,用于将降低了电量的被测电容电压放大。本发明实施例提供的电容式触控检测电路,通过补偿模块10将被测电容的电量降低一预定电量后,再通过放大模块11进行放大,由于被测电容的电量降低,进而其上的电压降低,使得被测电容上的电容变化量相对于没有补偿模块时的电容变化量增大,进而检测电路提高灵敏度。
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