[发明专利]显示装置、光检测方法以及电子设备

说明书

相关申请的参考 

本发明包含涉及于2010年1月7日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP 2010-001877中所公开的主题，其全部内容结合于此作为参考。 

技术领域

本发明涉及在像素电路中使用诸如有机电致发光器件(有机EL器件)的自发光器件的显示装置、用于设置在像素电路中的光检测部的光检测方法以及电子设备。

背景技术

在有机电致(EL：电致发光)发光元件用作像素的有源矩阵型显示装置中，通过有源器件(通常为每个像素电路中设置的薄膜晶体管(TFT))控制流入每个像素电路中的发光元件的电流。由于有机EL器件是电流发光元件，所以通过控制流入EL器件的电流量获得显色(发色，colordevelopment)的灰度级。

具体地，在包括有机EL器件的像素电路中，向有机EL器件提供对应于施加的信号值电压的电流以根据信号值执行灰度级的发光。

在使用自发光器件的显示装置(诸如使用上述这种有机EL器件的显示装置)中，去除像素间发光亮度的离散(离差，dispersion)以消除出现在屏幕上的不均匀性是重要的。

当像素间发光亮度的离散还以面板制造时的初始状态出现时，离散通过依赖于时间的变化而引起。

时间的流逝劣化了有机EL器件的发光效率。具体地，即使相同的电流流过，发光亮度随着时间的流逝而劣化。

结果，例如，如图59A所示，如果在黑色背景上显示白色窗口图案然后在全屏上显示白色，那么显示窗口图案的部分的亮度降低。

在JP-T-2007-501953或JP-T-2008-518263(下文分别称作专利文献1和2)中公开了防止上述这种情况的对策。具体地，专利文献1公开了在每个像素电路中设置光传感器且向系统反馈光传感器的检测值以校正发光亮度的装置。专利文献2公开了从光传感器向系统反馈检测值以执行发光亮度的校正的装置。

发明内容

本发明涉及一种显示装置，其中为像素电路设置用于检测来自像素电路的发光元件的光的光检测部。实现了该显示装置，其中根据通过光检测部检测的光量信息校正信号值以防止这种上述屏幕烧灼(screen burn)。本发明还提供了可以高精度执行检测且可以由少量元件和少量控制线构成的光检测部。

根据本发明实施方式，提供了一种显示装置，包括：

多个像素电路，以矩阵形式设置在多条信号线与多条扫描线彼此相交的位置上，并且各自包括发光元件；

发光驱动部，用于对每个像素电路施加信号值，以使像素电路发出对应于信号值的亮度的光；以及

光检测部，设置在每个像素电路中，并且包括传感器-开关兼用元件以及检测信号输出晶体管，该传感器-开关兼用元件通过在其导通状态与截止状态之间切换而用作开关元件，并且在其截止状态下用作用于检测来自像素电路的发光元件的光的光传感器，该检测信号输出晶体管连接至光检测线，以用于将与截止状态下的传感器-开关兼用元件的电流变化量相对应的光检测信息输出至光检测线。

根据本发明另一实施方式，提供了一种用于显示装置的光检测方法，该显示装置包括具有发光元件的像素电路以及用于检测来自像素电路的发光元件的光且输出光检测信息的光检测部，该光检测部包括传感器-开关兼用元件以及检测信号输出晶体管，该传感器-开关兼用元件通过在其导通状态与截止状态之间切换而用作开关元件且在其截止状态下用作用于检测来自像素电路的发光元件的光的光传感器，该检测信号输出晶体管连接至光检测线，以用于将与截止状态下的传感器-开关兼用元件的电流变化量相对应的光检测信息输出至光检测线，该光检测方法包括以下步骤：

将与在传感器-开关兼用元件的截止状态下流入传感器-开关兼用元件的电流变化量相对应的光检测信息从检测信号输出晶体管输出至光检测线。

根据本发明又一实施方式，提供了一种电子设备，包括：

多个像素电路，以矩阵形式设置在多条信号线与多条扫描线彼此相交的位置上，并且各自包括发光元件；

发光驱动部，用于将信号值施加至每个像素电路以使像素电路发出对应于信号值的亮度的光；以及

光检测部，包括传感器-开关兼用元件以及检测信号输出晶体管，该传感器-开关兼用元件通过在其导通状态与截止状态之间切换而用作开关元件，并且在其截止状态下用作用于检测来自像素电路的发光元件的光的光传感器，该检测信号输出晶体管连接至光检测线，以用于将与截止状态下的传感器-开关兼用元件的电流变化量相对应的光检测信息输出至光检测线。

根据本发明又一实施方式，提供了一种显示装置，包括：