[发明专利]PDP模组有效去除误放电的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种PDP模组有效去除误放电的方法。

背景技术

PDP特性上，放电的领域和不放电的领域在其临界部分持续很长时间后，或者放电领域部分的单元内部特性上变化导致发生误放电(不让放电的Cell放电).所以PDP厂商在这部分的问题解决上有一定的难度。

发明内容

本发明的目的是提供一种PDP模组有效去除误放电的方法，在放电领域和非放电领域的临界部分发生误放电时，根据屏特性长期寿命测试,发生问题后对X-floating追加输入,最小化X-Y的电位差。

通过增加电极间隙来提高PDP的亮度和发光效率是一项非常有效的措施，但电极间隙增大，所需的工作电压会随之提高。为解决这一问题，可在维持和扫描电极(X电极和Y电极)中间增加一个浮动电极F。浮动电极在单元工作期间不加电压信号，但在单个维持电压脉冲期间，其上会产生一定的感应电势。由于F电极与其两侧的X、Y电极的间距很小，因而在这两个间隙处容易首先产生放电。在它们的导引作用下，引起X、Y之间的长间隙放电，从而可降低PDP所需的维持电压。

 

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是： 

无追加电路,逻辑设计时反应此类问题,程序设计时充分地考虑市场的不良现象,可改善此类问题。

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中：

图1是X-floating曲线图。

图2是增加随时间变化的X-floating电压数值图。

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书（包括任何附加权利要求、摘要和附图）中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

为了掌握屏特性,进行误放电测试,特别是进行因什么样的屏类型发生不良放电的测试。 一般来说发生误放电问题, 是根据此类问题的发生再寻找解决方案。发生进行性误放电的原因是随着放电时间开始，电压会呈现越来越降低的趋势。但是从外部施加的电压几乎不会随时间变化,所以屏在一定的时间经过后外部会施加高电压,故发生过放电现象。

PDP厂家因此类问题,导致寿命问题比较多。

故波形要随时间变更，在无电路追加的情况下X-floating逐步增加后减少X-Y的电位差。

减少此电位差的部分要在Reset的Ramp down上发生，这样的误放电也会在Ramp down上发生，对寿命有很大的影响。

如图2一样,增加随时间变化的X-floating电压,减少X-Y电极的电压来减少误放电。

 

本发明并不局限于前述的具体实施方式。本发明扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。