[发明专利]光纤陀螺仪半成品探测板检测方法

权利要求书

1.一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于该方法包括如下步骤：

（A）在标准条件下，对于所述半成品探测板进行回路自检以判断其是否正常，若是，进入步骤（B）；否则，返修后重复上述步骤；

（B）将所述探测电路板涂刷三防漆，之后进行高低温环境下不通电老化；

（C）将步骤（B）中所产生之半成品探测板进行随机振动，及在振动过程中对于所述半成品探测板进行回路自检以判断其是否正常；

（D）将步骤（C）中检测合格之半成品探测板进行高低温环境下的梯度循环测试。

2.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于所述回路自检指的是：数字逻辑电路模块利用累加器及寄存器进行累加产生14位的数字斜坡，及将所述数字斜坡发送到D/A转换器以获取模拟信号；所述模拟信号顺次经过后置运算放大器、探测器的信号脚、隔直电容、前置运算放大器后发送至A/D转换器；所述A/D转换器转化为数字信号后输送到数字逻辑电路模块中，作为当前一帧数据经过滤波器传送到计算机输出显示，及作为产生数字斜坡信号的下一帧数据的标尺；判断所述计算机所输出数据图是否合格，以确定所述半成品探测板是否工作正常。

3.根据权利要求2所述的一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于所述回路自检还包括：

检测、判断所述D/A转换器输出脚处数字斜坡信号，以确定D/A转换器是否工作正常；

检测、判断所述探测器的信号脚的信号，以确定后置运算放大器是否工作正常；

检测、判断所述A/D转换器的入口处的信号，以确定前置运算放大器是否工作正常。

4.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于：所述标准条件为20℃-30℃。

5.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于：所述高低温环境是指-40℃-+60℃。

6.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺仪半成品探测板检测方法，其特征在于：所述随机振动条件是20-80Hz、+3dB；80-35Hz、0.04g2/Hz；350-2000Hz、-3dB。